دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: نورشناسی ویرایش: 1 نویسندگان: Toru Yoshizawa (editor) سری: ISBN (شابک) : 0849337607, 9781420019513 ناشر: CRC Press سال نشر: 2009 تعداد صفحات: 728 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 26 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Handbook of optical metrology: principles and applications به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب راهنمای سنجش نوری: اصول و کاربردها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
رشته اندازهشناسی نوری دستاوردهای عملی و نظری فراوانی را ارائه میدهد و میتواند به هر تعداد از مقالات دانشگاهی که چنین مواردی را ثبت میکنند، استناد کند. با این حال، در حالی که چندین کتاب که حوزههای خاصی از اندازهشناسی نوری را پوشش میدهند، وجود دارد، تا زمانی که صفحات اینجا تحقیق، نوشته و گردآوری نشدهاند، این رشته فاقد یک کتاب راهنمای جامع است، کتابی که نمای کلی از اندازهشناسی نوری را ارائه میکند که کاربردهای عملی و همچنین اصول را پوشش میدهد. راهنمای مترولوژی نوری: اصول و کاربردها که به دقت طراحی شده است تا اطلاعات را برای مبتدیان بدون به خطر انداختن سختگیری های آکادمیک در دسترس قرار دهد، قبل از بررسی کاربردهای عملی، اصول و تکنیک های اساسی را مورد بحث قرار می دهد. راهنما با مشارکت پیشکسوتان در این زمینه، و همچنین محققان جدید، 30 فصل قابل توجه و با ارجاع را ارائه می دهد. علاوه بر موضوع مقدماتی، توضیحات آینده نگر در هر فصل گنجانده شده است که این موضوع را به یک مرجع ارزشمند برای همه کسانی که با مترولوژی نوری مرتبط هستند تبدیل می کند. • اصول منابع نور، لنزها، منشورها، و آینهها، و همچنین حسگرهای نوری الکترونیک، دستگاههای نوری، و عناصر اپتومکانیکی را پوشش میدهد. • روش ها و کاربردهای تداخل سنجی، هولوگرافی و لکه را مورد بحث قرار می دهد • مترولوژی مویر و روش اندازه گیری هترودین نوری را توضیح می دهد • به جزئیات پراش، پراکندگی، پلاریزاسیون و اپتیک میدان نزدیک می پردازد. • کاربردهایی را برای اندازه گیری طول و اندازه، جابجایی در نظر می گیرد. راستی و موازی، صافی و اشکال سه بعدی • روش های پیشرفته ای مانند آنالیز حاشیه، فتوگرامتری، پلاریمتری، اندازه گیری دوشکستگی، و بیضی سنجی را بررسی می کند. • در مورد پیشرفتها در لایههای نازک نوری و پوششها، و اندازهگیری سطح و ضخامت فیلم بحث میکند.
The field of optical metrology offers a wealth of both practical and theoretical accomplishments, and can cite any number of academic papers recording such. However, while several books covering specific areas of optical metrology do exist, until the pages herein were researched, written, and compiled, the field lacked for a comprehensive handbook, one providing an overview of optical metrology that covers practical applications as well as fundamentals. Carefully designed to make information accessible to beginners without sacrificing academic rigor, the Handbook of Optical Metrology: Principles and Applications discusses fundamental principles and techniques before exploring practical applications. With contributions from veterans in the field, as well as from up-and-coming researchers, the Handbook offers 30 substantial and well-referenced chapters. In addition to the introductory matter, forward-thinking descriptions are included in every chapter that make this a valuable reference for all those involved with optical metrology. • Covers fundamentals of light sources, lenses, prisms, and mirrors, as well as optoelectronic sensors, optical devices, and optomechanical elements • Discusses interferometry, holography, and speckle methods and applications • Explains moire metrology and the optical heterodyne measurement method • Delves into the specifics of diffraction, scattering, polarization, and near-field optics • Considers applications for measuring length and size, displacement. straightness and parallelism, flatness, and three-dimensional shapes • Explores advanced methods such as fringe analysis, photogrammetry, polarimetry, birefringence measurement, and ellipsometry • Discusses advances in optical thin film and coatings, and film surface and thickness profilometry