برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید

09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Frontiers in Optical Methods: Nano-Characterization and Coherent Control

دانلود کتاب مرزها در روشهای نوری: خصوصیات نانو و کنترل منسجم

مشخصات کتاب

Frontiers in Optical Methods: Nano-Characterization and Coherent Control

دسته بندی: نورشناسی
ویرایش: 1 
نویسندگان: Ken-ichi Shudo (auth.),  Ken-ichi Shudo,  Ikufumui Katayama,  Shin-Ya Ohno (eds.)  
سری: Springer Series in Optical Sciences 180 
ISBN (شابک) : 9783642405938, 9783642405945 
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg 
سال نشر: 2014 
تعداد صفحات: 233 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 14 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 59,000

کلمات کلیدی مربوط به کتاب مرزها در روشهای نوری: خصوصیات نانو و کنترل منسجم: فناوری لیزر، فوتونیک، فیزیک اتمی، مولکولی، نوری و پلاسما، اپتیک، اپتوالکترونیک، پلاسمونیک و دستگاه‌های نوری، طیف‌سنجی و میکروسکوپ، امواج مایکروویو، RF و مهندسی نوری، نانوتکنولوژی

میانگین امتیاز به این کتاب :
تعداد امتیاز دهندگان : 3

در صورت تبدیل فایل کتاب Frontiers in Optical Methods: Nano-Characterization and Coherent Control به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب مرزها در روشهای نوری: خصوصیات نانو و کنترل منسجم نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب مرزها در روشهای نوری: خصوصیات نانو و کنترل منسجم

این مجموعه از بررسی‌های محققان برجسته ژاپنی موضوعاتی مانند پاسخ‌های نوری فوق سریع، مطالعات تراهرتز و فونون، سطح فوق‌العاده حساس و طیف‌سنجی فشار بالا، ترکیب فوتونیک مرئی و اشعه ایکس را پوشش می‌دهد. چندین حوزه مرتبط در لبه برش فناوری اندازه گیری و علم مواد گنجانده شده است. این کتاب تا حدی بر اساس مقالات مروری استناد شده به زبان ژاپنی در مجلدات ویژه مجله انجمن خلاء ژاپن است.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This collection of reviews by leading Japanese researchers covers topics like ultrafast optical responses, terahertz and phonon studies, super-sensitive surface and high-pressure spectroscopy, combination of visible and x-ray photonics. Several related areas at the cutting edge of measurement technology and materials science are included. This book is partly based on well-cited review articles in the Japanese language in special volumes of the Journal of the Vacuum Society of Japan.

فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-xii
Introduction: Ultra-Fast Response of Ultra-Thin Materials on Solid Surfaces....Pages 1-25
Front Matter....Pages 27-27
Real-Time Analysis of Initial Oxidation Process on Si(001) by Means of Surface Differential Reflectance Spectroscopy and Reflectance Difference Spectroscopy....Pages 29-44
Development of In-Vacuum Microscope Under High Pressure and Its Applications....Pages 45-62
Infrared and Terahertz Synchrotron Radiation: Optics and Applications....Pages 63-81
Front Matter....Pages 83-83
Time-Resolved X-Ray Diffraction Studies of Coherent Lattice Dynamics Using Synchrotron Radiation....Pages 85-103
Coherent Phonon Dynamics in Carbon Nanotubes....Pages 105-127
Generation and Observation of GHz–THz Acoustic Waves in Thin Films and Microstructures Using Optical Methods....Pages 129-151
Sate-of-the-Art of Terahertz Science and Technology....Pages 153-166
Broadband Terahertz Spectroscopy of Thin Films....Pages 167-184
Front Matter....Pages 185-185
Terahertz Light Source Based on Synchrotron Radiation....Pages 187-196
Single-Photon Counting and Passive Microscopy of Terahertz Radiation....Pages 197-212
Material Evaluation with Optical Measurement Systems: Focusing on Terahertz Spectroscopy....Pages 213-224
Back Matter....Pages 225-228