دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Handbook of Microscopy Set: Applications in Materials Science, Solid-State Physics and Chemistry: Vols. 1+2+3
دانلود کتاب کتاب راهنمای مجموعه میکروسکوپی: کاربردها در علم مواد، فیزیک حالت جامد و شیمی: جلد. 1+2+3
مشخصات کتاب
Handbook of Microscopy Set: Applications in Materials Science, Solid-State Physics and Chemistry: Vols. 1+2+3
ویرایش: سری: ISBN (شابک) : 9783527294442, 9783527619283 ناشر: VCH Verlagsgesellschaft mbH سال نشر: 1997 تعداد صفحات: 1963 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 91 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 43,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Handbook of Microscopy Set: Applications in Materials Science, Solid-State Physics and Chemistry: Vols. 1+2+3 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب کتاب راهنمای مجموعه میکروسکوپی: کاربردها در علم مواد، فیزیک حالت جامد و شیمی: جلد. 1+2+3 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب کتاب راهنمای مجموعه میکروسکوپی: کاربردها در علم مواد، فیزیک حالت جامد و شیمی: جلد. 1+2+3
این هندبوک با پوشش جامع، نوشته و ویرایش شده توسط کارشناسان
برجسته در این زمینه، یک اثر مرجع قطعی و به روز است. روش‌های جلد
اول و روش‌های II اساس فیزیکی و شیمیایی و قابلیت‌های تکنیک‌های
مختلف میکروسکوپی مورد استفاده در علم مواد را به تفصیل شرح
می‌دهند. برنامه های حجمی نتایج به دست آمده با همه روش های موجود
را برای کلاس های اصلی مواد نشان می دهد و نشان می دهد که کدام
تکنیک را می توان با موفقیت در یک ماده خاص به منظور به دست آوردن
اطلاعات مورد نظر به کار برد.
با کتاب راهنمای میکروسکوپی ، دانشمندان و مهندسان درگیر در تعیین
مشخصات مواد در موقعیتی خواهند بود که به دو سوال کلیدی پاسخ
دهند: \"یک تکنیک معین چگونه کار می کند؟\" و \"کدام تکنیک برای
مشخص کردن یک ماده خاص مناسب است؟\" محتوا:
فصل 1 فلزات و آلیاژها (صفحات 5-110):
فصل 2 میکروسکوپ سنگ ها و مواد معدنی (صفحات 111-144):
فصل 3 نیمه هادی ها و دستگاه های نیمه هادی (صفحه های
145-205):
فصل 4 مواد نوری الکترونیکی (صفحات 207-233):
فصل 5 ساختارهای دامنه در مواد فرویک (صفحات 235-251):
فصل 6 میکروسکوپی از سرامیک های ساختاری (صفحه های
253-292):
فصل 7 میکروسکوپ مواد گوهرشناسی (صفحات 293-320):
فصل 8 سرامیک های ابررسانا (صفحه ges 321–383):
فصل 9 ساختارهای غیر دوره ای (صفحات 385-410):
فصل 10 مواد پزشکی و دندانپزشکی (صفحات 411-436):
فصل 11 کربن (صفحات 437-482) :
فصل 12 مواد ساختاری مرکب (صفحات 483-506):
فصل 13 ساختار پلیمرها و آنالوگ های مونومر آنها (صفحات
507-582):
فصل 14 مواد هسته ای (صفحات 583-664):
فصل 15 میکروسکوپ مغناطیسی (صفحات 665-687):
فصل 1 ذرات کوچک (صفحات 691-737):
فصل 2 تحولات فاز ساختاری (صفحات 739-750):
فصل 3 آماده سازی تکنیک برای میکروسکوپ الکترونی انتقالی (صفحات
751-801):
فصل 4 مسائل زیست محیطی (صفحه های 803-819):
فصل 5 Hyleography کمی: تعیین داده های کمی از میکروگراف ها (صفحه
های 821-833):
فصل 1 مبانی میکروسکوپ نوری (صفحات 7-31):
فصل 2 تضاد نوری ریزساختارها (صفحات 33-53):
فصل 3 میکروسکوپ رامان (صفحات 55-69):
فصل 4 سوم؟ نور بعدی t میکروسکوپ (صفحات 71-82):
فصل 5 میکروسکوپ نوری میدان نزدیک (صفحه های 83-96):
فصل 6 میکروسکوپ مادون قرمز (صفحات 97-115):
فصل 1 تصویربرداری با اشعه ایکس نرم ( صفحات 119-129):
فصل 2 میکرورادیوگرافی اشعه ایکس (صفحات 149-161):
فصل 3 میکروتوموگرافی اشعه ایکس (صفحات 149-161):
فصل 4 میکروسکوپ پرتو ایکس نرم با هولوگرافی (صفحات
163-176):
فصل 5 توپوگرافی پراش پرتو ایکس (صفحات 195-241):
فصل 1 میکروسکوپ صوتی (صفحات 194-241):
فصل 1.1 روش‌های پرتو ثابت: انتقال میکرو الکترون اسپای (صفحات
246-351):
فصل 1.1.2 میکروسکوپ الکترونی با وضوح بالا (صفحات
353-406):
فصل 1.2 میکروسکوپ الکترونی بازتابی (صفحات 407-424):
فصل 1.3 الکترون انرژی؟ تصویربرداری طیف سنجی (صفحات
425-445):
فصل 1.4 میکروسکوپ الکترونی ولتاژ بالا (صفحات 447-465):
فصل 1.5 پراش الکترون پرتو همگرا (صفحات 467-485):
Chapter Electron?E1. میکروسکوپ (صفحات 487-503):
فصل 1.7 میکروفون لورنتس roscopy (صفحات 505-514):
فصل 1.8 روش های هولوگرافی الکترونی (صفحه های 515-536):
فصل 2.1 میکروسکوپ الکترونی روبشی (صفحات 539-561):
فصل 2.2 Scanning Micropagessmission5pyron Electron -594):
فصل 2.3 اسکن میکروسکوپ الکترونی انتقالی: کنتراست Z (صفحات
595-620):
فصل 2.4 میکروسکوپ اسکنر روبشی (SAM) و طیف‌سنجی فوتوالکترونی
پرتو ایکس (XPS) (صفحه‌های 646) :
فصل 2.5 میکروآنالیز روبشی (صفحات 641-659):
فصل 2.6 تصویربرداری طیف سنجی جرمی یون ثانویه (صفحات
691-716):
فصل 1 تشدید مغناطیسی هسته ای (صفحات 719-734): فصل 2 میکروسکوپ
الکترونی روبشی با تجزیه و تحلیل قطبش (SEMPA) (صفحات
735-749):
فصل 3 میکروسکوپ الکترونی اسپین؟ قطبش کم انرژی (صفحات
751-759):
فصل 1 فوتوالکترون تابش 76- صفحه میکروسکوپ 773):
فصل 2 انتشار میدانی و میکروسکوپ یون میدانی (شامل FIM کاوشگر
اتم) (صفحات 775–801):
فصل 1 میکروسکوپ تونل زنی اسکن (صفحه 8) 09-826):
فصل 2 میکروسکوپ نیروی روبشی (صفحات 828-844):
فصل 3 میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (صفحات 845-853):
فصل 4 میکروسکوپ انتشار الکترونی بالستیک (صفحه های 828-858)
:
فصل 1 ضبط تصویر در میکروسکوپ (صفحات 885-921):
فصل 2 پردازش تصویر (صفحات 923-952):
فصل 1 میکروسکوپ تصادفی (صفحات 955-962):
فصل 2 هولوگرافی الکترونی کم انرژی و میکروسکوپ نقطه ای؟ (صفحات
963-986):
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Comprehensive in coverage, written and edited by leading
experts in the field, this Handbook is a definitive, up-to-date
reference work. The Volumes Methods I and Methods II detail the
physico-chemical basis and capabilities of the various
microscopy techniques used in materials science. The Volume
Applications illustrates the results obtained by all available
methods for the main classes of materials, showing which
technique can be successfully applied to a given material in
order to obtain the desired information.
With the Handbook of Microscopy, scientists and engineers
involved in materials characterization will be in a position to
answer two key questions: "How does a given technique work?",
and "Which techique is suitable for characterizing a given
material?" Content:
Chapter 1 Metals and Alloys (pages 5–110):
Chapter 2 Microscopy of Rocks and Minerals (pages
111–144):
Chapter 3 Semiconductors and Semiconductor Devices (pages
145–205):
Chapter 4 Optoelectronic Materials (pages 207–233):
Chapter 5 Domain Structures in Ferroic Materials (pages
235–251):
Chapter 6 Microscopy of Structural Ceramics (pages
253–292):
Chapter 7 Microscopy of Gemmological Materials (pages
293–320):
Chapter 8 Superconducting Ceramics (pages 321–383):
Chapter 9 Non?Periodic Structures (pages 385–410):
Chapter 10 Medical and Dental Materials (pages 411–436):
Chapter 11 Carbon (pages 437–482):
Chapter 12 Composite Structural Materials (pages
483–506):
Chapter 13 The Structure of Polymers and Their Monomeric
Analogs (pages 507–582):
Chapter 14 Nuclear Materials (pages 583–664):
Chapter 15 Magnetic Microscopy (pages 665–687):
Chapter 1 Small Particles (pages 691–737):
Chapter 2 Structural Phase Transformations (pages
739–750):
Chapter 3 Preparation Techniques for Transmission Electron
Microscopy (pages 751–801):
Chapter 4 Environmental Problems (pages 803–819):
Chapter 5 Quantitative Hyleography: The Determination of
Quantitative Data from Micrographs (pages 821–833):
Chapter 1 Fundamentals of Light Microscopy (pages 7–31):
Chapter 2 Optical Contrasting of Microstructures (pages
33–53):
Chapter 3 Raman Microscopy (pages 55–69):
Chapter 4 Three?Dimensional Light Microscopy (pages
71–82):
Chapter 5 Near Field Optical Microscopy (pages 83–96):
Chapter 6 Infrared Microscopy (pages 97–115):
Chapter 1 Soft X?Ray Imaging (pages 119–129):
Chapter 2 X?Ray Microradiography (pages 149–161):
Chapter 3 X?Ray Microtomography (pages 149–161):
Chapter 4 Soft X?Ray Microscopy by Holography (pages
163–176):
Chapter 5 X?Ray Diffraction Topography (pages 195–241):
Chapter 1 Acoustic Microscopy (pages 194–241):
Chapter 1.1 Stationary Beam Methods: Transmission Electron
Microscopy (pages 246–351):
Chapter 1.1.2 High?Resolution Electron Microscopy (pages
353–406):
Chapter 1.2 Reflection Electron Microscopy (pages
407–424):
Chapter 1.3 Electron Energy?Loss Spectroscopy Imaging (pages
425–445):
Chapter 1.4 High Voltage Electron Microscopy (pages
447–465):
Chapter 1.5 Convergent Beam Electron Diffraction (pages
467–485):
Chapter 1.6 Low?Energy Electron Microscopy (pages
487–503):
Chapter 1.7 Lorentz Microscopy (pages 505–514):
Chapter 1.8 Electron Holography Methods (pages 515–536):
Chapter 2.1 Scanning Electron Microscopy (pages 539–561):
Chapter 2.2 Scanning Transmission Electron Microscopy (pages
563–594):
Chapter 2.3 Scanning Transmission Electron Microscopy: Z
Contrast (pages 595–620):
Chapter 2.4 Scanning Auger Microscopy (SAM) and Imaging X?Ray
Photoelectron Spectroscopy (XPS) (pages 621–640):
Chapter 2.5 Scanning Microanalysis (pages 641–659):
Chapter 2.6 Imaging Secondary Ion Mass Spectrometry (pages
691–716):
Chapter 1 Nuclear Magnetic Resonance (pages 719–734):
Chapter 2 Scanning Electron Microscopy with Polarization
Analysis (SEMPA) (pages 735–749):
Chapter 3 Spin?Polarized Low?Energy Electron Microscopy (pages
751–759):
Chapter 1 Photoelectron Emission Microscopy (pages
763–773):
Chapter 2 Field Emission and Field Ion Microscopy (Including
Atom Probe FIM) (pages 775–801):
Chapter 1 Scanning Tunneling Microscopy (pages 809–826):
Chapter 2 Scanning Force Microscopy (pages 828–844):
Chapter 3 Magnetic Force Microscopy (pages 845–853):
Chapter 4 Ballistic Electron Emission Microscopy (pages
855–882):
Chapter 1 Image Recording in Microscopy (pages 885–921):
Chapter 2 Image Processing (pages 923–952):
Chapter 1 Coincidence Microscopy (pages 955–962):
Chapter 2 Low Energy Electron Holography and Point?Projection
Microscopy (pages 963–986):
