دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: نورشناسی ویرایش: نویسندگان: Harland Tompkins, Eugene A Haber, Harland Tompkins, Eugene A Haber سری: Materials Science and Process Technology ISBN (شابک) : 9780815514992, 3540222936 ناشر: William Andrew Pub.; Springer سال نشر: 2005 تعداد صفحات: 902 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 9 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب کتابچه راهنمای الیسسومتری: فیزیک، اپتیک، کتاب راهنما، کاتالوگ، جداول
در صورت تبدیل فایل کتاب Handbook of Ellipsometry به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب کتابچه راهنمای الیسسومتری نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
پانزده مشارکت کننده در صنعت و دانشگاه در ایالات متحده، سوئد، آلمان و جمهوری چک در مورد آخرین پیشرفت ها و کاربردهای بیضی سنجی نوشته اند. تئوری بیضی سنجی، فیزیک نوری مواد، و تجزیه و تحلیل داده ها برای بیضی سنجی طیف سنجی به طور طولانی توضیح داده شده است. فصول بعدی مربوط به ابزار دقیق، از جمله اجزای نوری و بیضیسنج ساده PCSA، قطبشکننده و آنالایزر چرخشی، مدولاسیون پلاریزاسیون و روشهای چند کاناله است. کاربردهای کنونی برای فیلمهای SiO2 (توسط یوجین A. Irene از U. از کارولینای شمالی) و برای بیضیسنجی تعمیمیافته (توسط Mathias Schubert از U. Leipzig در آلمان) در فصلهایی که شامل بحث درباره تئوری است، توضیح داده شدهاند. پیشرفتهای جدید مانند بیضیسنجی VUV، مادون قرمز طیفسنجی و کاربردها در علوم زیستی موضوعات فصلهای پایانی هستند. هر فصل با کتابشناسی به پایان می رسد
Fifteen contributors in industry and universities in the US, Sweden, Germany, and the Czech Republic have written on the latest developments and applications of ellipsometry. The theory of ellipsometry, the optical physics of materials, and data analysis for spectroscopic ellipsometry are described at length. Subsequent chapters concern instrumentation, including the optical components and the simple PCSA ellipsometer, the rotating polarizer and analyzer, polarization modulation, and multichannel methods. Current applications are described for SiO2 films (by Eugene A. Irene of the U. of North Carolina) and for generalized ellipsometry (by Mathias Schubert of the U. Leipzig in Germany) in chapters that include discussion of theory. New developments such as VUV ellipsometry, spectroscopic infrared, and applications in the life sciences are the topics of the final chapters. Each chapter concludes with a bibliography
Content:
Front Matter
Preface
Table of Contents
Part I. Theory of Ellipsometry
1. Polarized Light and Ellipsometry
2. Optical Physics of Materials
3. Data Analysis for Spectroscopic Ellipsometry
Part II. Instrumentation
4. Optical Components and the Simple PCSA (Polarizer, Compensator, Sample, Analyzer) Ellipsometer
5. Rotating Polarizer and Analyzer Ellipsometry
6. Polarization Modulation Ellipsometry
7. Multichannel Ellipsometry
Part III. Critical Reviews of Some Applications
8. SiO2 Films
9. Theory and Application of Generalized Ellipsometry
Part IV. Emerging Areas in Ellipsometry
10. VUV Ellipsometry
11. Spectroscopic Infrared Ellipsometry
12. Ellipsometry in Life Sciences
Index