دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: الکترونیک: VLSI ویرایش: 2 نویسندگان: Yuan Taur. Tak H. Ning سری: ISBN (شابک) : 0521832942, 9780521832946 ناشر: Cambridge University Press سال نشر: 2009 تعداد صفحات: 340 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 32 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Fundamentals of Modern VLSI Devices به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب مبانی دستگاه های مدرن VLSI نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
با این نسخه دوم کاملاً بهروز شده، ویژگیها و طراحیهای دستگاههای مدرن VLSI و همچنین عوامل مؤثر بر عملکرد را بیاموزید. نسخه اول به طور گسترده ای به عنوان یک کتاب درسی استاندارد در میکروالکترونیک در بسیاری از دانشگاه های بزرگ ایالات متحده و در سراسر جهان پذیرفته شده است. نویسندگان مشهور بینالمللی، وابستگیهای متقابل پیچیده و مبادلات ظریف بین پارامترهای مختلف عملا مهم دستگاه را برجسته میکنند و همچنین بحثی عمیق در مورد مقیاسبندی دستگاه و محدودیتهای مقیاسبندی دستگاههای CMOS و دوقطبی ارائه میکنند. معادلات و پارامترهای ارائه شده به طور مداوم در برابر واقعیت داده های سیلیکونی بررسی می شوند و این کتاب را در طراحی عملی ترانزیستور و در کلاس درس به همان اندازه مفید می کند. هر فصل بهروزرسانی شده است تا آخرین پیشرفتها را شامل شود، مانند نظریه طول مقیاس ماسفت، مدل حمل و نقل با میدان بالا، و دستگاههای دوقطبی مبتنی بر SiGe.
Learn the basic properties and designs of modern VLSI devices, as well as the factors affecting performance, with this thoroughly updated second edition. The first edition has been widely adopted as a standard textbook in microelectronics in many major US universities and worldwide. The internationally-renowned authors highlight the intricate interdependencies and subtle tradeoffs between various practically important device parameters, and also provide an in-depth discussion of device scaling and scaling limits of CMOS and bipolar devices. Equations and parameters provided are checked continuously against the reality of silicon data, making the book equally useful in practical transistor design and in the classroom. Every chapter has been updated to include the latest developments, such as MOSFET scale length theory, high-field transport model, and SiGe-base bipolar devices.
1. Introduction 2. Basic Device Physics 3. MOSFETS Devices 4. CMOS Device Design 5. CMOS Performance Factors 6. Bipolar Devices 7. Bipolar Device Design 8. Bipolar Performance Factors 9. Memory Devices 10. Silicon on Insulator Devices Appendices (1 to 18) References Indexes