ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Fringe 2005: The 5th International Workshop on Automatic Processing of Fringe Patterns

دانلود کتاب Fringe 2005: پنجمین کارگاه بین المللی پردازش خودکار الگوهای حاشیه

Fringe 2005: The 5th International Workshop on Automatic Processing of Fringe Patterns

مشخصات کتاب

Fringe 2005: The 5th International Workshop on Automatic Processing of Fringe Patterns

ویرایش: 1 
نویسندگان: ,   
سری:  
ISBN (شابک) : 9783540260370, 9783540293033 
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg 
سال نشر: 2006 
تعداد صفحات: 728 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 25 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 51,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب Fringe 2005: پنجمین کارگاه بین المللی پردازش خودکار الگوهای حاشیه: کنترل کیفیت، قابلیت اطمینان، ایمنی و ریسک، تولید، ماشین آلات، ابزار، اپتیک کاربردی، اپتوالکترونیک، دستگاه‌های نوری، مهندسی کنترل، اتوماسیون و رباتیک



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 18


در صورت تبدیل فایل کتاب Fringe 2005: The 5th International Workshop on Automatic Processing of Fringe Patterns به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب Fringe 2005: پنجمین کارگاه بین المللی پردازش خودکار الگوهای حاشیه نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب Fringe 2005: پنجمین کارگاه بین المللی پردازش خودکار الگوهای حاشیه



هدف از مجموعه مقالات فرینج ارائه به مهندسان، دانشمندان و کارشناسان صنعتی است که به روزترین و تاثیر ارزیابی به کمک کامپیوتر در تکنیک های نور ساختاریافته، تداخل سنجی هولوگرافیک، تداخل سنجی کلاسیک، اندازه گیری لکه تکنیک‌های Moiré و Grid برای تحلیل استرس، آزمایش غیرمخرب، اندازه‌گیری شکل، تشخیص خطا، کنترل کیفیت و زمینه‌های مرتبط.

تکنولوژی های تقویت شده با وضوح در اندازه گیری نوری.

رویکردهای جدید در مقیاس وسیع 4 بعدی مترولوژی نوری.

سیستم های حسگر پیچیده و کاربردهای آنها برای حل مشکلات اندازه گیری چالش برانگیز.

تاکید ویژه بر استراتژی های اندازه گیری مدرن با در نظر گرفتن ترکیب فعال مدل سازی فیزیکی، شبیه سازی به کمک کامپیوتر و اکتساب داده های تجربی توجه بیشتر به رویکردهای جدید برای گسترش محدودیت‌های وضوح موجود معطوف شده است که با استفاده از سیستم‌های حسگر نوری پیشرفته، دروازه‌هایی را برای اندازه‌شناسی مقیاس وسیع از نانو تا ماکرو باز می‌کند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

The purpose of the Fringe Proceedings is to present to engineers, scientists and industrial experts the state-of-the-art and the impact of Computer aided Evaluation in Structured Light Techniques, Holographic Interferometry, Classic Interferometry, Speckle Metrology, Moiré and Grid Techniques for Stress Analysis, Nondestructive Testing, Shape Measurement, Fault Detection, Quality Control and related fields.

Topics of particular interest are:

Advanced Computer Aided Measurement Techniques;

Resolution Enhanced Technologies in Optical Metrology;

New approaches in Wide Scale 4D Optical Metrology;

Sophisticated Sensors Systems and their applications for the solution of challenging measurement problems.

Special emphasis is put on modern Measurement Strategies taking into account the active combination of Physical Modeling, Computer Aided Simulation and Experimental Data Acquisition. Further attention is directed to new approaches for the Extension of Existing Resolution Limits that open the gates to Wide Scale Metrology ranging from nano to macro by using Advanced Optical Sensor Systems.



فهرست مطالب

Optical Measurement Techniques....Pages 2-11
New Challenges for Optical Metrology: Evolution or Revolution....Pages 14-29
Interpreting interferometric height measurements using the instrument transfer function....Pages 30-37
Are Residues of Primary Importance in Phase Unwrapping?....Pages 38-45
Experimental Study of Coherence Vortices: Birth and Evolution of Phase Singularities in the Spatial Coherence Function....Pages 46-53
Properties of Isothetic Lines in Discontinuous Fields....Pages 54-64
Heterodyne, quasi-heterodyne and after....Pages 65-73
Robust three-dimensional phase unwrapping algorithm for phase contrast magnetic resonance velocity imaging....Pages 74-81
Signal processing of interferogram using a two-dimensional discrete Hilbert transform....Pages 82-89
Recent advances in automatic demodulation of single fringe patterns....Pages 90-97
Comparison of Techniques for Fringe Pattern Background Evaluation....Pages 98-106
Deformed surfaces in holographic Interferometry. Similar aspects concerning nonspherical gravitational fields....Pages 107-117
Dynamic evaluation of fringe parameters by recurrence processing algorithms....Pages 118-125
Fast hologram computation for holographic tweezers....Pages 126-133
Wavelet analysis of speckle patterns with a temporal carrier....Pages 134-141
Different preprocessing and wavelet transform based filtering techniques to improve Signal- to-noise ratio in DSPI fringes....Pages 142-149
Wavefront Optimization using Piston Micro Mirror Arrays....Pages 150-157
Adaptive Correction to the Speckle Correlation Fringes using twisted nematic LCD....Pages 158-165
Random phase shift interferometer....Pages 166-174
Spatial correlation function of the laser speckle field with holographic technique....Pages 175-182
Fault detection from temporal unusualness in fringe patterns....Pages 183-190
The Virtual Fringe Projection System (VFPS) and Neural Networks....Pages 191-194
Fringe contrast enhancement using an interpolation technique....Pages 195-203
Some remarks on accuracy of imaging polarimetry with carrier frequency....Pages 204-207
Application of weighted smoothing splines to the local denoising of digital speckle pattern interferometry fringes....Pages 208-211
Investigation of the fringe order in multi-component shearography surface strain measurement....Pages 212-216
Metrological Fringe inpainting....Pages 217-220
Combination of Digital Image Correlation Techniques and Spatial Phase Shifting Interferometry for 3D-Displacement Detection and Noise Reduction of Phase Difference Data....Pages 221-225
Photoelastic tomography for birefringence determination in optical microelements....Pages 226-229
Optimization of electronic speckle pattern interferometers....Pages 230-233
Properties of phase shifting methods applied to time average interferometry of vibrating objects....Pages 234-237
Depth-resolved displacement measurement using Tilt Scanning Speckle Interferometry....Pages 238-241
New Phase Unwrapping Strategy for Rapid and Dense 3D Data Acquisition in Structured Light Approach....Pages 242-246
Determination of modulation and background intensity by uncalibrated temporal phase stepping in a two-bucket spatially phase stepped speckle interferometer....Pages 247-250
EUVA’s challenges toward 0.1nm accuracy in EUV at-wavelength interferometry....Pages 252-266
Some similarities and dissimilarities of imaging simulation for optical microscopy and lithography....Pages 267-274
A Ronchi-Shearing Interferometer for compaction test at a wavelength of 193nm....Pages 275-282
Simulation and error budget for high precision interferometry....Pages 283-290
Progress on the wide scale Nano-positioning and Nanomeasuring Machine by Integration of Optical-Nanoprobes....Pages 291-298
Through-Focus Point-Spread Function Evaluation for Lens Metrology using the Extended Nijboer-Zernike Theory....Pages 299-307
Digital Holographic Microscopy (DHM) applied to Optical Metrology: A resolution enhanced imaging technology applied to inspection of microscopic devices with subwavelength resolution....Pages 308-314
An adaptive holographic interferometer for high precision measurements....Pages 315-318
Spatio-Temporal Joint Transform Correlator and Fourier Domain OCT....Pages 319-325
Subdivision of Nonlinearity in Heterodyne Interferometers....Pages 327-333
Progress in SAR Interferometry....Pages 336-353
New calibration procedure for measuring shape on specular surfaces....Pages 354-361
Fringe Reflection for high resolution topometry and surface description on variable lateral scales....Pages 362-371
Full-Field Shape Measurement of Specular Surfaces....Pages 372-379
Numerical Integration of Sampled Data for Shape Measurements: Metrological Specification....Pages 380-387
Fringe analysis in scanning frequency interferometry for absolute distance measurement....Pages 388-395
Surface Shape Measurement by Dual-wavelength Phase-shifting Digital Holography....Pages 396-403
Phase-shifting interferometric profilometry with a wide tunable laser source....Pages 404-410
Opto-Mechatronic System for Sub-Micro Shape Inspection of Innovative Optical Components for Example of Head-Up-Displays....Pages 411-419
3-D profilometry with acousto-optic fringe interferometry....Pages 420-427
Phase-shifting shearing interferometry with a variable polarization grating recorded on Bacteriorhodopsin....Pages 428-431
Quasi-absolute testing of aspherics using Combined Diffractive Optical Elements....Pages 432-435
Selfcalibrating fringe projection setups for industrial use....Pages 436-441
3-D shape measurement method using point-array encoding....Pages 442-445
3D measurement of human face by stereophotogrammetry....Pages 446-449
Fast 3D shape measurement system based on colour structure light projection....Pages 450-453
Tip Geometry and Tip-Sample Interactions in Scanning Probe Microscopy (SPM)....Pages 456-463
Applications of time-averaged digital holographic interferometry....Pages 464-471
Spatio-temporal encoding using digital Fresnel holography....Pages 472-479
High resolution optical reconstruction of digital holograms....Pages 480-487
Application of Interferometry and Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI) for Measurements on MEMS....Pages 488-493
Full-field, real-time, optical metrology for structural integrity diagnostics....Pages 494-505
3D Micro Technology: Challenges for Optical Metrology....Pages 506-513
Interferometric Technique for Characterization of Ferroelectric Crystals Properties and Microengineering Process....Pages 514-521
Holographic interferometry as a tool to capture impact induced shock waves in carbon fibre composites....Pages 522-529
Two new techniques to improve interferometric deformation-measurement: Lockin and Ultrasound excited Speckle-Interferometry....Pages 530-538
Testing formed sheet metal parts using fringe projection and evaluation by virtual distortion compensation....Pages 539-546
Fatigue damage precursor detection and monitoring with laser scanning technique....Pages 547-550
Analysis of localization of strains by ESPI, in equibiaxial loading (bulge test) of copper sheet metals....Pages 551-554
Laser vibrometry using digital Fresnel holography....Pages 555-562
2D laser vibrometry by use of digital holographic spatial multiplexing....Pages 563-566
Fatigue Detection of Fibres Reinforced Composite Materials by Fringes Projection and Speckle Shear Interferometry....Pages 567-570
Multifunctional interferometric platform specialised for active components of MEMS/MOEMS characterisation....Pages 571-574
Laser Multitask ND Technology in Conservation Diagnostic Procedures....Pages 575-578
Progress in Scanning Holographic Microscopy for Biomedical Applications....Pages 580-587
The Dynamics of Life: Imaging Temperature and Refractive Index Variations Surrounding Material and Biological Systems with Dynamic Interferometry....Pages 588-596
Microsystem based optical measurement systems: case of opto-mechanical sensors....Pages 597-604
White-light interferometry with higher accuracy and more speed....Pages 605-612
Novel white light Interferometer with miniaturised Sensor Tip....Pages 613-621
Challenges in the dimensional Calibration of submicrometer Structures by Help of optical Microscopy....Pages 622-631
A white light interferometer for measurement of external cylindrical surfaces....Pages 632-639
Pixelated Phase-Mask Dynamic Interferometers....Pages 640-647
Tomographic mapping of airborne sound fields by TV-holography....Pages 648-655
Dynamic ESPI system for spatio-temporal strain analysis....Pages 656-661
Digital holographic microscope for dynamic characterization of a micromechanical shunt switch....Pages 662-666
Digital Holographic Microscopy (DHM): Fast and Robust 3D measurements with interferometric resolution for industrial inspection....Pages 667-671
Digital Micromirror Arrays (DMD) — a proven MEMS technology looking for new emerging applications in optical metrology....Pages 672-675
Optimised projection lens for the use in digital fringe projection....Pages 676-681
Absolute Calibration of Cylindrical Specimens in Grazing Incidence Interferometry....Pages 682-685
Digital holographic interferometer with active wavefront control by means of liquid crystal on silicon spatial light modulator....Pages 686-689
In-Situ-Detection of Cooling Lubricant Residues on Metal Surfaces Using a Miniaturised NIR-LEDPhotodiode-System....Pages 690-693
Chromatic Confocal Spectral Interferometry — (CCSI)....Pages 694-701
A simple and efficient optical 3D-Sensor based on “Photometric Stereo” (“UV-Laser Therapy”)....Pages 702-706




نظرات کاربران