دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: E. W. Müller (auth.), John J. Hren, S. Ranganathan (eds.) سری: ISBN (شابک) : 9781489962416, 9781489965134 ناشر: Springer US سال نشر: 1968 تعداد صفحات: 256 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 6 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب میکروسکوپ زمینه یون: خصوصیات و ارزیابی مواد
در صورت تبدیل فایل کتاب Field-Ion Microscopy به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ زمینه یون نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
Front Matter....Pages i-xiv
The Theoretical and Technical Development of Field-Ion Microscopy....Pages 1-5
Field Emission and Field Ionization....Pages 6-27
Field Evaporation....Pages 28-52
Gas Impact, Field Etching, and Field Deformation....Pages 53-68
Some Geometrical Aspects of Surfaces Related to Field-Ion Microscopy....Pages 69-87
Artifacts, Hydrogen Promotion, and Field-Ion Microscopy of Nonrefractory Metals....Pages 88-101
Interpretation of Field-Ion Microscope Images of Point and Line Defects....Pages 102-119
Field-Ion Microscope Studies of Planar Faults....Pages 120-136
Field-Ion Microscope Studies of Interfaces....Pages 137-156
Experimental Studies of Alloys with Field-Ion Microscope....Pages 157-170
Field-Ion Microscope Studies of Radiation Damage....Pages 171-182
Field-Ion Microscopy of Whiskers and thin Films and Applications (Real and Imagined) to Mass Spectrometry and Biological Molecule Imaging....Pages 183-212
Back Matter....Pages 213-244