Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design

Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design برخی از متخصصان برجسته جهان را در EDA آماری، طراحی حافظه، مدل‌سازی تنوع دستگاه و مدل‌سازی قابلیت اطمینان گرد هم می‌آورد تا نتایج نظری و عملی را در یک مرجع کامل در مورد تکنیک‌های آماری برای آمارهای شدید در حافظه‌های نانومقیاس گردآوری کند. . این کار انواع تکنیک‌ها، از جمله روش‌های آماری، قطعی، مبتنی بر مدل و غیر پارامتری را به همراه توضیحات مرتبط منابع تغییرات و تأثیر آنها بر دستگاه‌ها و طراحی حافظه را پوشش می‌دهد. به طور خاص، نویسندگان روش‌هایی را از نظریه ارزش افراطی، شبیه‌سازی مونت کارلو، مدل‌سازی قابلیت اطمینان، محاسبه حاشیه حافظه مستقیم و محاسبه بیش‌حجمی پوشش می‌دهند. ایده‌ها نیز از دیدگاه یک متخصص EDA و یک طراح حافظه ارائه می‌شوند تا درک جامعی از آخرین هنر در حوزه تخمین آمار شدید و طراحی حافظه آماری ارائه کنند. Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design مرجع مفیدی در طراحی آماری مدارهای مجتمع برای محققان، مهندسان و متخصصان است.

Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design brings together some of the world’s leading experts in statistical EDA, memory design, device variability modeling and reliability modeling, to compile theoretical and practical results in one complete reference on statistical techniques for extreme statistics in nanoscale memories. The work covers a variety of techniques, including statistical, deterministic, model-based and non-parametric methods, along with relevant description of the sources of variations and their impact on devices and memory design. Specifically, the authors cover methods from extreme value theory, Monte Carlo simulation, reliability modeling, direct memory margin computation and hypervolume computation. Ideas are also presented both from the perspective of an EDA practitioner and a memory designer to provide a comprehensive understanding of the state-of -the-art in the area of extreme statistics estimation and statistical memory design. Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design is a useful reference on statistical design of integrated circuits for researchers, engineers and professionals.