ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits

دانلود کتاب الزامات تست الکترونیکی برای مدارهای VLSI دیجیتال، حافظه و سیگنال مختلط

Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits

مشخصات کتاب

Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits

ویرایش: 1 
نویسندگان: ,   
سری: Frontiers in Electronic Testing 17 
ISBN (شابک) : 9780792379911, 9780306470400 
ناشر: Springer US 
سال نشر: 2002 
تعداد صفحات: 701 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 41 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 47,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب الزامات تست الکترونیکی برای مدارهای VLSI دیجیتال، حافظه و سیگنال مختلط: مدارها و سیستم ها، مهندسی الکترونیک و کامپیوتر، مهندسی به کمک کامپیوتر (CAD، CAE) و طراحی



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 15


در صورت تبدیل فایل کتاب Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب الزامات تست الکترونیکی برای مدارهای VLSI دیجیتال، حافظه و سیگنال مختلط نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب الزامات تست الکترونیکی برای مدارهای VLSI دیجیتال، حافظه و سیگنال مختلط



تست الکترونیکی مدرن سابقه ای چهل ساله دارد. متخصصان آزمون چند کنفرانس نسبتا بزرگ و کارگاه های آموزشی متعدد برگزار می کنند، یک مجله دارند و بیش از صد کتاب در مورد تست وجود دارد. با این حال، یک دوره کامل تست فقط در چند دانشگاه ارائه می شود که عمدتا توسط اساتیدی که علاقه تحقیقاتی در این زمینه دارند. ظاهراً اکثر اساتید در دوران دانشجویی درس تست الکترونیک را نمی گذراندند. به غیر از شلوغی برنامه درسی مهندسی کامپیوتر، دلیل عمده ای که برای عدم وجود درس تست الکترونیک ذکر شده، نبود کتاب درسی مناسب است. برای VLSI پایه و اساس توسط فناوری دستگاه های نیمه هادی، طراحی مدار و آزمایش الکترونیکی فراهم شد. بنابراین، در یک برنامه درسی مهندسی کامپیوتر، لازم است که مبانی قبل از برنامه ها آموزش داده شود. حوزه VLSI به سیستم‌های روی یک تراشه، که شامل زیرسیستم‌های دیجیتال، حافظه و سیگنال‌های مختلط می‌شود، گسترش یافته است. طبق دانش ما، این اولین کتاب درسی است که هر سه نوع مدارهای الکترونیکی را پوشش می دهد. ما این کتاب درسی را برای دوره کارشناسی "مبانی" در آزمون الکترونیکی نوشته ایم. بدیهی است که برای یک دوره یک ترم بسیار حجیم است و معلم باید از بین موضوعات انتخاب کند. ما چنین آزادی را محدود نکردیم زیرا انتخاب ممکن است به تخصص و علایق فردی بستگی داشته باشد. علاوه بر این، داشتن یک کتاب بزرگتر که حتی پس از اتمام دوره مفید بودن خود را برای صاحبش حفظ کند، شایستگی دارد. با سرسختی برابر، ما نیازهای سه گروه دیگر از خوانندگان را برطرف می کنیم.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

The modern electronic testing has a forty year history. Test professionals hold some fairly large conferences and numerous workshops, have a journal, and there are over one hundred books on testing. Still, a full course on testing is offered only at a few universities, mostly by professors who have a research interest in this area. Apparently, most professors would not have taken a course on electronic testing when they were students. Other than the computer engineering curriculum being too crowded, the major reason cited for the absence of a course on electronic testing is the lack of a suitable textbook. For VLSI the foundation was provided by semiconductor device techn- ogy, circuit design, and electronic testing. In a computer engineering curriculum, therefore, it is necessary that foundations should be taught before applications. The field of VLSI has expanded to systems-on-a-chip, which include digital, memory, and mixed-signalsubsystems. To our knowledge this is the first textbook to cover all three types of electronic circuits. We have written this textbook for an undergraduate “foundations” course on electronic testing. Obviously, it is too voluminous for a one-semester course and a teacher will have to select from the topics. We did not restrict such freedom because the selection may depend upon the individual expertise and interests. Besides, there is merit in having a larger book that will retain its usefulness for the owner even after the completion of the course. With equal tenacity, we address the needs of three other groups of readers.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages 1-1
Introduction....Pages 3-16
VLSI Testing Process and Test Equipment....Pages 17-34
Test Economics and Product Quality....Pages 35-55
Fault Modeling....Pages 57-80
Front Matter....Pages 81-81
Logic and Fault Simulation....Pages 83-128
Testability Measures....Pages 129-154
Combinational Circuit Test Generation....Pages 155-210
Sequential Circuit Test Generation....Pages 211-252
Memory Test....Pages 253-308
DSP-Based Analog and Mixed-Signal Test....Pages 309-384
Model-Based Analog and Mixed-Signal Test....Pages 385-416
Delay Test....Pages 417-438
IDDQ Test....Pages 439-462
Front Matter....Pages 463-463
Digital DFT and Scan Design....Pages 465-488
Built-In Self-Test....Pages 489-548
Boundary Scan Standard....Pages 549-574
Analog Test Bus Standard....Pages 575-593
System Test and Core-Based Design....Pages 595-612
The Future of Testing....Pages 613-614




نظرات کاربران