دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Toru Nakura (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9789811004230, 9789811004247
ناشر: Springer Singapore
سال نشر: 2016
تعداد صفحات: 220
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 11 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب دانش ضروری برای طراحی مدار سطح LSI ترانزیستور: مدارها و سیستم ها، اطلاعات و ارتباطات، مدارها، مدارها و دستگاه های الکترونیکی
در صورت تبدیل فایل کتاب Essential Knowledge for Transistor-Level LSI Circuit Design به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب دانش ضروری برای طراحی مدار سطح LSI ترانزیستور نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب مجموعه ای از دانش متفرقه ضروری برای طراحی مدار LSI در سطح ترانزیستور است که به عنوان مسائلی که باید در هر مرحله طراحی در نظر گرفته شوند خلاصه شده است. برای طراحی یک LSI که واقعاً کار می کند و برای اینکه بتوان آن را به درستی اندازه گیری کرد، دانش بسیار متنوع و دقیق ضروری است. برای مثال، حتی اگر ممکن است یک کتاب درسی درباره یک آپمپ بخواند، ممکن است طراحی مدار آپمپ در ابزارهای CAD در واقع امکان پذیر نباشد. نیمه اول این متن مسائل مهم طراحی مانند اصول عملیاتی ابزارهای CAD، از جمله ورود شماتیک، شبیهسازی SPICE، طرحبندی و تایید، و استخراج RC را توضیح میدهد. سپس، موضوعات مستعد اشتباه برای بسیاری از مبتدیان طراحی مدار، ناشی از عدم توجه آنها به این موضوعات، از جمله بافرهای IO، نویز و مشکلات ناشی از پیشرفت کوچک سازی توضیح داده می شود. در ادامه این مباحث، مسائل اساسی اما بسیار تخصصی برای اندازه گیری مدار LSI از جمله دستگاه های اندازه گیری و تکنیک های اندازه گیری توضیح داده شده است. خوانندگان تجربه شبیه سازی شده از کل جریان از بالا به پایین طراحی و اندازه گیری مدار را خواهند داشت. این کتاب برای تازه واردان به آزمایشگاه یا فارغ التحصیلان جدید که به یک گروه طراحی مدار اختصاص داده شده اند اما تجربه کمی در طراحی مدار دارند مفید خواهد بود. این اثر منتشر شده همچنین برای کسانی که تجربهای در طراحی مدار دارند ایدهآل است تا دانشی را که قبلاً در اختیار دارند تأیید و تکمیل کند.
This book is a collection of the miscellaneous knowledge essential for transistor-level LSI circuit design, summarized as the issues that need to be considered in each design step. To design an LSI that actually functions and to be able to properly measure it, an extremely large amount of diverse, detailed knowledge is necessary. Even though one may read a textbook about an op-amp, for example, the op-amp circuit design may not actually be possible to complete in one’s CAD tools. The first half of this text explains important design issues such as the operating principles of CAD tools, including schematic entry, SPICE simulation, layout and verification, and RC extraction. Then, mistake-prone topics for many circuit design beginners, resulting from their lack of consideration of these subjects, are explained including IO buffers, noise, and problems due to the progress of miniaturization. Following these topics, basic but very specialized issues for LSI circuit measurement are explained including measurement devices and measurement techniques. Readers will have the simulated experience of the whole flow from top to bottom of circuit design and measurement. The book will be useful for newcomers to a lab or to new graduates who are assigned to a circuit design group but have little experience in circuit design. This published work is also ideal for those who have some experience in circuit design, to confirm and complement the knowledge that they already possess.
Front Matter....Pages i-xi
Schematic Entry....Pages 1-18
SPICE Simulation....Pages 19-47
Layout and Verification....Pages 49-82
Interconnect RC Extraction....Pages 83-102
IO Buffers....Pages 103-120
Noise....Pages 121-134
Problems Due To the Progress of Miniaturization....Pages 135-153
Measurement Devices....Pages 155-176
Measurement Techniques....Pages 177-194
The Overall Design Procedure....Pages 195-209
Back Matter....Pages 211-211