دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب ESD testing: from components to systems
دانلود کتاب تست ESD: از اجزاء تا سیستم ها
مشخصات کتاب
ESD testing: from components to systems
ویرایش:
نویسندگان: Voldman. Steven H
سری: ESD series
ISBN (شابک) : 9781118707128, 1118707141
ناشر: John Wiley & Sons
سال نشر: 2016
تعداد صفحات: 319
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 12 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 49,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب تست ESD: از اجزاء تا سیستم ها: مدارهای الکترونیکی، تاثیر تابش بر، دستگاه ها و لوازم الکترونیکی، آزمایش، تخلیه الکتریکی، تشخیص، تخلیه الکتریکی، اندازه گیری، الکترواستاتیک، فناوری و مهندسی، مکانیک
در صورت تبدیل فایل کتاب ESD testing: from components to systems به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تست ESD: از اجزاء تا سیستم ها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب تست ESD: از اجزاء تا سیستم ها
با تکامل فن آوری نیمه هادی ها و تنوع جهانی تجارت نیمه هادی ها،
آزمایش دستگاه های نیمه هادی برای سیستم های تخلیه الکترواستاتیک
(ESD) و استرس بیش از حد الکتریکی (EOS) اهمیت بیشتری یافته است.
تست ESD: از مؤلفه‌ها تا سیستم‌ها خواننده را در آزمایش‌های جدید،
مدل‌های آزمایشی و تکنیک‌های مشخص‌سازی اجزای نیمه‌رسانا برای
ESD، EOS و latchup
به روز می‌کند. ویژگی های کلیدی: - ارائه درک و دانش از مدل ها و
مشخصات ESD از جمله مدل بدن انسان (HBM)، مدل ماشین (MM)، مدل
دستگاه شارژ (CDM)، مدل برد شارژ (CBM)، رویدادهای تخلیه کابل
(CDE)، فلز انسان. مدل (HMM)، IEC 61000-4-2 و IEC 61000-4-5.
-درباره روش‌های آزمایش جدید مانند پالس خط انتقال (TLP)، پالس خط
انتقال بسیار سریع (VF-TLP)، و روش‌های آتی TLP پالس بلند تا TLP
فوق سریع (UF-TLP) بحث می‌کند. -هم تست مرسوم و هم تکنیک های تست
جدید را برای ارزیابی سطح تراشه و سیستم توصیف می کند. -آزمایش
EOS، اسکن سازگاری الکترومغناطیسی (EMC)، به روش‌های بازسازی فعلی
را نشان می‌دهد. -مشخصه‌بندی و روش‌های آزمایش لچ‌آپ را برای
ارزیابی فناوری نیمه‌رسانا تا آزمایش محصول مورد بحث قرار می‌دهد.
تست ESD: From Components to Systems بخشی از مجموعه کتاب های
نویسندگان در مورد حفاظت از تخلیه الکترواستاتیک (ESD) است. این
کتاب یک مرجع ارزشمند برای تراشه های نیمه هادی حرفه ای و مهندس
تست ESD و EOS در سطح سیستم خواهد بود. دستگاه نیمه هادی و توسعه
فرآیند، طراحان مدار، کیفیت، قابلیت اطمینان و مهندسین تجزیه و
تحلیل شکست نیز آن را یک مرجع ضروری می دانند. علاوه بر این،
درمان آکادمیک آن برای دانشجویان ارشد و فارغ التحصیلان علاقه مند
به فرآیند نیمه هادی، فیزیک دستگاه، آزمایش نیمه هادی و کارهای
تجربی جذاب خواهد بود. ادامه
مطلب...
چکیده:
چکیده:
ارائه اطلاعات در مورد تخلیه الکترواستاتیک (ESD) و مشخصات
دستگاه های نیمه هادی، این کتاب به بررسی مدل های فیزیکی ESD می
پردازد و بحث می کند. سیستم‌های آزمایشی و تست و مشخصات هر مدل، از جمله
سیستم‌های تست RF ESD و سیستم‌های ضبط مغناطیسی (MR) و
لچ‌آپ. بیشتر بخوانید...
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
With the evolution of semiconductor technology and global
diversification of the semiconductor business, testing of
semiconductor devices to systems for electrostatic discharge
(ESD) and electrical overstress (EOS) has increased in
importance. ESD Testing: From Components to Systems updates the
reader in the new tests, test models, and techniques in the
characterization of semiconductor components for ESD, EOS, and
latchup. Key
features: -Provides understanding and knowledge of ESD models
and specifications including human body model (HBM), machine
model (MM), charged device model (CDM), charged board model
(CBM), cable discharge events (CDE), human metal model (HMM),
IEC 61000-4-2 and IEC 61000-4-5. -Discusses new testing
methodologies such as transmission line pulse (TLP), to very
fast transmission line pulse (VF-TLP), and future methods of
long pulse TLP, to ultra-fast TLP (UF-TLP). -Describes both
conventional testing and new testing techniques for both chip
and system level evaluation. -Addresses EOS testing,
electromagnetic compatibility (EMC) scanning, to current
reconstruction methods. -Discusses latchup characterization and
testing methodologies for evaluation of semiconductor
technology to product testing. ESD Testing: From Components to
Systems is part of the authors' series of books on
electrostatic discharge (ESD) protection; this book will be an
invaluable reference for the professional semiconductor chip
and system-level ESD and EOS test engineer. Semiconductor
device and process development, circuit designers, quality,
reliability and failure analysis engineers will also find it an
essential reference. In addition, its academic treatment will
appeal to both senior and graduate students with interests in
semiconductor process, device physics, semiconductor testing
and experimental work. Read
more...
Abstract:
Abstract:
Presenting information on electrostatic discharge (ESD) and
the characterization of semiconductor devices, this book
examines ESD physical models and discusses the test systems
and testing and specifications of each model,
including the RF ESD test systems and magnetic recording (MR)
systems and latchup. Read more...
فهرست مطالب
Content: Human body model --
Machine model --
Charged device model --
Transmission line pulse (TLP) --
Very fast transmission line pulse (VF-TLP) --
IEC 61000-4-2 --
Human metal model (HMM) --
IEC 61000-4-5 --
Cable discharge event (CDE) --
Latchup --
Electrical overstress (EOS) --
Electromagnetic compatibility (EMC) testing.
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Handbook of Odors in Materials
دانلود کتاب Erläuterungen zu Heinrich Böll: Ansichten eines Clowns, 4. Auflage (Königs Erläuterungen und Materialien, Band 301)
دانلود کتاب Полное собрание сочинений в 24 томах
دانلود کتاب Collider Phenomenology - Basic Knowledge and Techniques
