Entwurf selbsttestbarer Schaltungen

تکنولوژی نیمه هادی امروزی نمی تواند تضمین کند که همه تراشه های تولید شده به درستی عمل می کنند، حتی اگر طراحی بدون خطا باشد. این کتاب از نقص‌های تولید نیمه‌رسانا گرفته تا روش‌های آزمون کلاسیک تا روش‌های خودآزمایی و آخرین کار تحقیقاتی که هدف آن یکپارچه‌سازی طراحی و آزمایش و سنتز خودکار مدارهای قابل آزمایش خوب از توصیفات رفتاری است، را در بر می‌گیرد. تمام ابزارهای لازم برای خودآزمایی، مانند ژنراتورهای الگوی آزمایشی و فشرده‌کننده‌ها برای پاسخ‌های آزمایشی، در مدار تعبیه شده‌اند تا تراشه بتواند به‌طور مستقل بدون دستگاه‌های خارجی گران قیمت، خود را آزمایش کند. سپس توالی آزمایش به گونه‌ای برنامه‌ریزی می‌شود که بسیاری از مدارهای فرعی به طور همزمان پردازش شوند و کل آزمایش تراشه فقط مدت کوتاهی طول بکشد.

Die heutige Halbleitertechnologie kann nicht garantieren, daß alle gefertigten Chips korrekt funktionieren, selbst wenn der Entwurf fehlerfrei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren. Für den Selbsttest werden alle notwendigen Hilfsmittel wie Testmustergeneratoren und Kompaktierer für die Testantworten in die Schaltung eingebaut, so daß der Chip sich autonom, ohne teure externe Geräte testen kann. Der Testablauf wird dann so geplant, daß viele Teilschaltungen gleichzeitig bearbeitet werden und der gesamte Chiptest nur kurze Zeit benötigt.