Ellipsometry at the Nanoscale

این کتاب بیضی‌سنجی را در علم نانو و فناوری نانو ارائه و معرفی می‌کند که پلی بین رفتار نوری کلاسیک و نانومقیاس مواد است. این مقاله نقش تشخیص نوری غیر مخرب و غیرتهاجمی بیضی‌سنجی را در بهبود علم و فناوری نانومواد و فرآیندهای مرتبط با نشان دادن بهره‌برداری از آن، از مطالعات بنیادی فیزیک و شیمی نانوساختارها تا هدف نهایی تولید کلید در دست، مشخص می‌کند. کنترل. این کتاب برای خوانندگان گسترده ای نوشته شده است: دانشمندان مواد، محققان، مهندسان، و همچنین دانشجویان و اپراتورهای فناوری نانو که می خواهند دانش خود را در مورد اصول و کاربردهای بیضی سنجی در پدیده های مقیاس نانو عمیق تر کنند. این به عنوان یک مقدمه کلی برای افرادی که کنجکاو هستند وارد حوزه‌های بیضی‌سنجی و پلاریمتری اعمال شده در نانومواد شوند، شروع می‌شود و به مقالات متخصصان در زمینه‌های خاص که از پلاسمونیک، اپتیک، نیمه‌رساناها و الکترونیک انعطاف‌پذیر را شامل می‌شود، می‌رسد. باور اصلی منعکس شده در این کتاب این است که بیضی سنجی به کار رفته در مقیاس نانو راه های جدیدی را برای رفع بسیاری از نیازهای فعلی ارائه می دهد. این کتاب همچنین کاربردهای بالقوه آینده‌نگر را بررسی می‌کند.

This book presents and introduces ellipsometry in nanoscience and nanotechnology making a bridge between the classical and nanoscale optical behaviour of materials. It delineates the role of the non-destructive and non-invasive optical diagnostics of ellipsometry in improving science and technology of nanomaterials and related processes by illustrating its exploitation, ranging from fundamental studies of the physics and chemistry of nanostructures to the ultimate goal of turnkey manufacturing control. This book is written for a broad readership: materials scientists, researchers, engineers, as well as students and nanotechnology operators who want to deepen their knowledge about both basics and applications of ellipsometry to nanoscale phenomena. It starts as a general introduction for people curious to enter the fields of ellipsometry and polarimetry applied to nanomaterials and progresses to articles by experts on specific fields that span from plasmonics, optics, to semiconductors and flexible electronics. The core belief reflected in this book is that ellipsometry applied at the nanoscale offers new ways of addressing many current needs. The book also explores forward-looking potential applications.