دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Electronics Reliability and Measurement Technology. Nondestructive Evaluation
دانلود کتاب قابلیت اطمینان الکترونیک و فناوری اندازه گیری. ارزیابی غیرمخرب
مشخصات کتاب
Electronics Reliability and Measurement Technology. Nondestructive Evaluation
ویرایش:
نویسندگان: Joseph S. Heyman (Eds.)
سری:
ISBN (شابک) : 9780815511717
ناشر: Noyes Data Corp
سال نشر: 1988
تعداد صفحات: 132
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 5 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 70,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Electronics Reliability and Measurement Technology. Nondestructive Evaluation به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب قابلیت اطمینان الکترونیک و فناوری اندازه گیری. ارزیابی غیرمخرب نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب قابلیت اطمینان الکترونیک و فناوری اندازه گیری. ارزیابی غیرمخرب
محتوا:
پیشگفتار، صفحه v
پیشگفتار، صفحات vii -viii، Joseph A. Heyman
- خلاصه اجرایی یافتهها و توصیهها، صفحات 1-6
علم اندازهگیری و تحقیقات علمی ساخت، صفحات 7-16، D.
Howard Phillips
SEM غیر مخرب برای تصویربرداری ویفر سطحی و زیرسطحی</ a>،
صفحات 17-33، روی اچ. پراپست، سی. رابرت بگنل، ادوارد آی.
کول جونیور، برایان جی. دیویس، فرانک ای. دیبیانکا، داریل جی.
جانسون ، ویلیام وی. آکسفورد، کریگ ای. اسمیت
بازرسی-تحقیق و توسعه سطحی، صفحات 34-36، J.S.
Batchelder
- حسگرهای توسعه یافته برای سنجش و تصویربرداری حرارتی در فرآیند،
صفحات 37-41، I.H. چوی، ک.د. Wise
قابلیت اطمینان سطح ویفر برای طراحی VLSI با کارایی بالا،
صفحات 42-54، برایان جی. روت، جیمز دی سیفلدت
تست قابلیت اطمینان سطح ویفر: ایده ای که زمان آن فرا رسیده است،
صفحات 55-59، O.D. Trapp
تصویربرداری اشعه ایکس با فوکوس میکرو، صفحه های 60-67،
Michael Juha
اندازه گیری ضخامت لایه مات ، صفحات 68-78، R.L. Thomas,
J. Jaarin, C. Reyes, I.C. اوپنهایم، L.D. فاورو، پ.ک. Kuo
بازرسی و کنترل فرآیند لحیم کاری لیزری هوشمند، صفحات
79-88، Riccardo Vanzetti
آزمایش پارگی برای کنترل کیفیت مس الکترورسشده اتصالات متقابل در
مدارهای پرسرعت و چگالی بالا، صفحات 89-106، لوئیس
زاکرایسک
- تداخل سنجی هولوگرافیک هترودین: محدوده با وضوح بالا و اندازه
گیری جابجایی، صفحات 107-122، جیمز دبلیو واگنر
- میکروسکوپ الکترونی روبشی "Whole wafer" ، صفحات
123-128، J. Devaney
این صفحه عمداً خالی گذاشته شده است، صفحه 129
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Content:
Foreword, Page v
Preface, Pages vii-viii, Joseph A. Heyman
- Executive summary of findings and recommendations, Pages
1-6
Measurement science and manufacturing science research,
Pages 7-16, D. Howard Phillips
Nondestructive SEM for surface and subsurface wafer imaging,
Pages 17-33, Roy H. Propst, C. Robert Bagnell, Edward I.
Cole Jr., Brian G. Davies, Frank A. DiBianca, Darryl G.
Johnson, William V. Oxford, Craig A. Smith
Surface inspection-research and development, Pages
34-36, J.S. Batchelder
- Sensors developed for in-process thermal sensing and imaging,
Pages 37-41, I.H. Choi, K.D. Wise
Wafer level reliability for high-performance VLSI design,
Pages 42-54, Bryan J. Root, James D. Seefeldt
Wafer level reliability testing: An idea whose time has come,
Pages 55-59, O.D. Trapp
Micro-focus X-ray imaging, Pages 60-67, Michael
Juha
Measurement of opaque film thickness, Pages 68-78, R.L.
Thomas, J. Jaarin, C. Reyes, I.C. Oppenheim, L.D. Favro, P.K.
Kuo
Intelligent laser soldering inspection and process control,
Pages 79-88, Riccardo Vanzetti
Rupture testing for the quality control of electrodeposited
copper interconnections in high-speed, high-density circuits,
Pages 89-106, Louis Zakraysek
- Heterodyne holographic interferometry: High-resolution
ranging and displacement measurement, Pages 107-122,
James W. Wagner
- “Whole wafer” scanning electron microscopy, Pages
123-128, J. Devaney
This page is intentionally left blank, Page 129
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Michel Foucault: más allá del estructuralismo y la hermenéutica
دانلود کتاب Wild Men in the Middle Ages: A Study in Art, Sentiment, and Demonology
دانلود کتاب A Guide to Pediatric Anesthesia
