دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Electron Nano-Imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM
دانلود کتاب الکترون نانو تصویربرداری: مبانی تصویربرداری و پراش برای TEM و STEM
مشخصات کتاب
Electron Nano-Imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM
ویرایش: 1
نویسندگان: Nobuo Tanaka (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9784431565024, 9784431565000
ناشر: Springer Japan
سال نشر: 2017
تعداد صفحات: 340
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 9 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 34,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب الکترون نانو تصویربرداری: مبانی تصویربرداری و پراش برای TEM و STEM: خصوصیات و ارزیابی مواد، طیف سنجی و میکروسکوپ، طیف سنجی/طیف سنجی، علم و فناوری در مقیاس نانو
در صورت تبدیل فایل کتاب Electron Nano-Imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب الکترون نانو تصویربرداری: مبانی تصویربرداری و پراش برای TEM و STEM نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب الکترون نانو تصویربرداری: مبانی تصویربرداری و پراش برای TEM و STEM
در این کتاب مبانی تصویربرداری و پراش در میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) و میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی (STEM) به سبک کتاب درسی توضیح داده شده است. این کتاب بر توضیح تصویربرداری میکروسکوپی الکترونی از TEM و STEM بدون گنجاندن در متن اصلی اطلاعات حواس‌پرتی در مورد دانش اولیه پراش کریستال، اپتیک موج، عدسی‌های الکترونی و تئوری‌های پراکندگی و پراش تمرکز دارد که به طور جداگانه در پیوست‌ها توضیح داده شده‌اند. توضیح جامعی بر اساس نظریه تبدیل فوریه ارائه شده است و این رویکرد در مقایسه با سایر منابع پیشرفته در میکروسکوپ الکترونی با وضوح بالا منحصر به فرد است. با کتاب درسی حاضر، خوانندگان به درک ماهیت تئوری های تصویربرداری TEM و STEM هدایت می شوند بدون اینکه دانش دیگر میکروسکوپ الکترونی منحرف شوند. اطلاعات به روز در این کتاب، به ویژه در مورد جزئیات تصویربرداری تصحیحات STEM و انحراف، در سراسر جهان برای دانشجویان فارغ التحصیل و متخصصان امروزی که تازه کار خود را شروع می کنند ارزشمند است.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
In this book, the bases of imaging and diffraction in transmission electron microscopy (TEM) and scanning transmission electron microscopy (STEM) are explained in the style of a textbook. The book focuses on the explanation of electron microscopic imaging of TEM and STEM without including in the main text distracting information on basic knowledge of crystal diffraction, wave optics, electron lens, and scattering and diffraction theories, which are explained separately in the appendices. A comprehensive explanation is provided on the basis of Fourier transform theory, and this approach is unique in comparison with other advanced resources on high-resolution electron microscopy. With the present textbook, readers are led to understand the essence of the imaging theories of TEM and STEM without being diverted by other knowledge of electron microscopy. The up-to-date information in this book, particularly on imaging details of STEM and aberration corrections, is valuable worldwide for today’s graduate students and professionals just starting their careers.
فهرست مطالب
Front Matter....Pages i-xxviii
Front Matter....Pages 1-1
Seeing Nanometer-Sized World....Pages 3-15
Structure and Imaging of a Transmission Electron Microscope (TEM)....Pages 17-28
Basic Theories of TEM Imaging....Pages 29-42
Resolution and Image Contrast of a Transmission Electron Microscope (TEM)....Pages 43-57
What is High-Resolution Transmission Electron Microscopy?....Pages 59-72
Lattice Images and Structure Images....Pages 73-86
Imaging Theory of High-Resolution TEM and Image Simulation....Pages 87-110
Advanced Transmission Electron Microscopy....Pages 111-145
Front Matter....Pages 147-147
What is Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)?....Pages 149-159
Imaging of Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM)....Pages 161-166
Image Contrast and Its Formation Mechanism in STEM....Pages 167-190
Imaging Theory for STEM....Pages 191-202
Future Prospects and Possibility of TEM and STEM....Pages 203-212
Concluding Remarks....Pages 213-215
Front Matter....Pages 217-217
Introduction to Fourier Transforms for TEM and STEM....Pages 219-226
Imaging by Using a Convex Lens as a Phase Shifter....Pages 227-233
Contrast Transfer Function of a Transmission Electron Microscope....Pages 235-242
Complex-Valued Expression of Aberrations of a Round Lens....Pages 243-245
Cowley’s Theory for TEM and STEM Imaging....Pages 247-251
Introduction to the Imaging Theory for TEM Including Nonlinear Terms....Pages 253-259
Front Matter....Pages 217-217
What are Image Processing Methods?....Pages 261-263
Elemental Analysis by Electron Microscopes....Pages 265-266
Electron Beam Damage to Specimens....Pages 267-271
Scattering of Electrons by an Atom....Pages 273-278
Electron Diffraction and Convergent Beam Electron Diffraction (CBED)....Pages 279-286
Bethe’s Method for Dynamical Electron Diffraction....Pages 287-291
Column Approximation and Howie-Whelan’s Method for Dynamical Electron Diffraction....Pages 293-296
Van Dyck’s Method for Dynamical Electron Diffraction and Imaging....Pages 297-300
Eikonal Theory for Scattering of Electrons by a Potential....Pages 301-303
Debye–Waller Factor and Thermal Diffuse Scattering (TDS)....Pages 305-307
Relativistic Effects to Diffraction and Imaging by a Transmission Electron Microscope....Pages 309-312
Back Matter....Pages 313-333
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب The Louise Parker Method Lean for Life The Cookbook
