Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope

در 30 سال گذشته، طیف‌سنجی از دست دادن انرژی الکترون (EELS) به یک تکنیک تحلیلی استاندارد تبدیل شده است که در میکروسکوپ الکترونی عبوری برای استخراج اطلاعات شیمیایی و ساختاری تا سطح اتمی استفاده می‌شود. در دو نسخه قبلی، طیف‌سنجی اتلاف انرژی الکترونی در میکروسکوپ الکترونی به راهنمای مرجع استاندارد برای ابزار دقیق، فیزیک و روش‌های مربوطه، و نوع نتایج قابل دستیابی تبدیل شده است. در چند سال گذشته، در دسترس بودن تجاری تصحیح‌کننده‌های انحراف لنز و تک رنگ‌کننده‌های پرتو الکترونی، وضوح فضایی و انرژی EELS را بیشتر افزایش داده است. این ویرایش سوم به طور کامل به روز شده و اصلاح شده، این پیشرفت های جدید و همچنین پیشرفت در نظریه پراکندگی الکترون، پردازش طیفی و تصویر، و کاربردهای اخیر در زمینه هایی مانند فناوری نانو را در بر می گیرد. ضمائم اکنون شامل فهرستی از مسیرهای آزاد متوسط ​​غیرکشسان و شرح بیش از 20 برنامه MATLAB برای محاسبه داده های EELS می باشد.

• در نظر گرفته شده با \"Bible of EELS\"
• تنها متن عمیق و تک نویسنده ای را برای حوزه هنوز در حال گسترش TEM-EELS ارائه می دهد
• به بسیاری از درخواست ها برای اولین نسخه جدید این اثر کلاسیک از سال 1996 پاسخ می دهد
• شامل بحث در مورد طرح‌های طیف‌سنج و آشکارساز جدید، همراه با تکنیک‌های آنالیز طیفی مانند دکانولوشن بیزی و تحلیل آماری چند متغیره است. ساختار ظریف با اتلاف انرژی.
• کاربردهای اخیر EELS را در زمینه هایی مانند فناوری نانو، دستگاه های الکترونیکی و مواد مبتنی بر کربن توصیف می کند.
• پوشش گسترده ای از آسیب تشعشعات و جابجایی را به عنوان محدودیت هایی ارائه می دهد. تفکیک فضایی.

از بررسی های نسخه اول و دوم:

\"متن .... حاوی مقدار زیادی از جزئیات عملی و بینش تجربی است... این کتاب یک خرید ضروری برای هر میکروسکوپیستی است که از طیف‌سنجی الکترونی یا تصویربرداری طیف‌سنجی استفاده می‌کند یا قصد استفاده از آن را دارد.\" - JMSA

\ "متن ضروری را در اختیار دانش‌آموز پیشرفته قرار می‌دهد و مرجع ارزشمندی را به محقق با تجربه ارائه می‌دهد." -- دانشمند آمریکایی

Within the last 30 years, electron energy-loss spectroscopy (EELS) has become a standard analytical technique used in the transmission electron microscope to extract chemical and structural information down to the atomic level. In two previous editions, Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron Microscope has become the standard reference guide to the instrumentation, physics and procedures involved, and the kind of results obtainable. Within the last few years, the commercial availability of lens-aberration correctors and electron-beam monochromators has further increased the spatial and energy resolution of EELS. This thoroughly updated and revised Third Edition incorporates these new developments, as well as advances in electron-scattering theory, spectral and image processing, and recent applications in fields such as nanotechnology. The appendices now contain a listing of inelastic mean free paths and a description of more than 20 MATLAB programs for calculating EELS data.

• Considered the "Bible of EELS"
• Presents the only in-depth, single-author text for the still-expanding field of TEM-EELS
• Responds to many requests for the first new edition of this classic work since 1996
• Includes discussion of new spectrometer and detector designs, together with spectral-analysis techniques such as Bayesian deconvolution and multivariate statistical analysis
• Provides extended discussion of anisotropic materials, retardation effects, delocalization of inelastic scattering, and the simulation of energy-loss fine structure.
• Describes recent applications of EELS to fields such as nanotechnology, electronic devices and carbon-based materials.
• Offers extended coverage of radiation damage and delocalization as limits to spatial resolution.

From reviews of the first and second edition:

"The text....contains a wealth of practical detail and experimental insight....This book is an essential purchase for any microscopist who is using, or planning to use, electron spectroscopy or spectroscopic imaging." – JMSA

"Provides the advanced student with an indispensible text and the experienced researcher with a valuable reference." -- American Scientist