ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Electron-Beam-Induced Nanometer-Scale Deposition

دانلود کتاب رسوب نانومتر و مقیاس الکترون-پرتو

Electron-Beam-Induced Nanometer-Scale Deposition

مشخصات کتاب

Electron-Beam-Induced Nanometer-Scale Deposition

دسته بندی: علوم (عمومی)
ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری: Advances in Imaging and Electron Physics 143 
ISBN (شابک) : 9780120147854 
ناشر: Elsevier, Academic Press 
سال نشر: 2006 
تعداد صفحات: 263 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 5 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 59,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 12


در صورت تبدیل فایل کتاب Electron-Beam-Induced Nanometer-Scale Deposition به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب رسوب نانومتر و مقیاس الکترون-پرتو نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب رسوب نانومتر و مقیاس الکترون-پرتو

پیشرفت‌ها در تصویربرداری و فیزیک الکترون دو سریال طولانی‌مدت را ادغام می‌کند: پیشرفت‌ها در الکترونیک و فیزیک الکترون و پیشرفت‌ها در میکروسکوپ نوری و الکترونی. این مجموعه شامل مقالات گسترده ای در مورد فیزیک دستگاه های الکترونی (به ویژه دستگاه های نیمه هادی)، اپتیک ذرات در انرژی های بالا و پایین، میکرولیتوگرافی، علوم تصویر و پردازش تصویر دیجیتال، انتشار امواج الکترومغناطیسی، میکروسکوپ الکترونی، و روش های محاسباتی مورد استفاده در همه این حوزه ها است. .


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials-Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains.



فهرست مطالب

Content: 
Electron‐Beam–Induced Nanometer‐Scale Deposition Review Article
Pages 1-235
Natalia Silvis-Cividjian, Cornelis W. Hagen

Series Editors
Page II

Index
Pages 237-247

Contents
Page V

Future Contributions
Pages IX-XIII

Foreword
Page XV

Preface
Page VII





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی