Electrical Overstress (EOS): Devices, Circuits and Systems

ویرایش: 1 
نویسندگان: Steven H. Voldman  
سری: EOS 
ISBN (شابک) : 1118511883, 9781118511886 
ناشر: Wiley 
سال نشر: 2013 
تعداد صفحات: 370 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 11 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 33,000



استرس بیش از حد الکتریکی (EOS) همچنان بر ساخت نیمه هادی ها، اجزای نیمه هادی و سیستم ها تأثیر می گذارد زیرا فناوری ها از میکرو تا نانو الکترونیک مقیاس می شوند. این کتاب اصول استرس بیش از حد الکتریکی و نحوه به حداقل رساندن و کاهش خرابی های EOS را آموزش می دهد. متن تصویر واضحی از پدیده‌های EOS، منشاء EOS، منابع EOS، فیزیک EOS، مکانیسم‌های خرابی EOS و طراحی روی تراشه و سیستم EOS ارائه می‌دهد. این یک بینش روشن از منابع EOS در تولید، ادغام شبکه‌های حفاظتی EOS روی تراشه و سطح سیستم، و به دنبال آن نمونه‌هایی در فناوری‌ها، مدارها و تراشه‌های خاص ارائه می‌کند. این کتاب در پوشش مسائل تولید EOS از طراحی روی تراشه و اتوماسیون طراحی الکترونیکی تا مدیریت برنامه EOS در سطح کارخانه در دنیای مدرن امروزی منحصر به فرد است.

برای پوشش گسترده در این زمینه به داخل نگاه کنید:

ul>

مبانی استرس بیش از حد الکتریکی، از فیزیک EOS، مقیاس‌های زمانی EOS، منطقه عملیاتی ایمن (SOA)، تا مدل‌های فیزیکی برای پدیده‌های EOS

منابع EOS در محیط تولید نیمه‌رسانای امروزی، و مدیریت برنامه EOS , پردازش و پردازش ممیزی EOS برای جلوگیری از خرابی EOS

خرابی های EOS در دستگاه های نیمه هادی، مدارها و سیستم

بحث در مورد چگونگی تمایز بین رویدادهای EOS و رویدادهای تخلیه الکترواستاتیک (ESD) (به عنوان مثال مانند مدل بدن انسان (HBM)، مدل دستگاه شارژ (CDM)، رویدادهای تخلیه کابل (CDM)، رویدادهای برد شارژ (CBE)، رویدادهای آزمایشی IEC 61000-4-2 در سطح سیستم)

روش‌های طراحی حفاظت EOS روی تراشه و تفاوت آنها با شبکه‌ها و راه‌حل‌های حفاظت ESD

بحث نگرانی‌های سطح سیستم EOS در بردهای مدار چاپی (PCB) و تجهیزات تولید

نمونه‌هایی مسائل مربوط به EOS در پیشرفته ترین فناوری های دیجیتال، آنالوگ و قدرت از جمله CMOS، LDMOS و BCD

بررسی قوانین طراحی EOS (DRC)، LVS، و اتوماسیون طراحی الکترونیکی ERC (EDA) و چگونه از سیستم های ESD EDA متمایز است

تکنیک های تست و صلاحیت EOS، و

راه حل های عملی حفاظت ESD خارج از تراشه و راه حل های سطح سیستم برای ارائه سیستم های قوی تر

</ ul>

Electrical Overstress (EOS): Devices, Circuits and Systems ادامه سری کتاب های نویسنده در مورد حفاظت ESD است. این یک مرجع ضروری و یک بینش مفید در مورد مسائلی است که با ورود به عصر نانو الکترونیک با فناوری مدرن روبرو می‌شویم.

محتوا:
فصل 1 مبانی فشار بیش از حد الکتریکی (صفحات 1-35):
فصل 2 مبانی مدل‌های EOS (صفحه‌های 36-86):
فصل 3 EOS، ESD، EMI، EMC و Latchup (صفحه‌های 87–101):
فصل 4 تجزیه و تحلیل خرابی EOS (صفحات 102-132): < br>فصل 5 تست و شبیه سازی EOS (صفحات 133-165):
فصل 6 استحکام EOS – فن آوری های نیمه هادی (صفحات 166-195):
فصل 7 طراحی EOS – طراحی سطح تراشه و برنامه ریزی طبقه (صفحه های 196 – 212):
فصل 8 طراحی EOS – طراحی مدار سطح تراشه (صفحات 213-239):
فصل 9 پیشگیری و کنترل EOS (صفحات 240-262):
فصل 10 طراحی EOS – اتوماسیون طراحی الکترونیکی ( صفحات 263-284):
فصل 11 مدیریت برنامه EOS (صفحه های 285-300):
فصل 12 فشار بیش از حد الکتریکی در فناوری های آینده (صفحات 301-327):

Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics.  This bookteaches the fundamentals of electrical overstress  and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a clear picture of EOS phenomena, EOS origins, EOS sources, EOS physics, EOS failure mechanisms, and EOS on-chip and system design.  It provides an illuminating insight into the sources of EOS in manufacturing, integration of on-chip, and system level EOS protection networks, followed by examples in specific technologies, circuits, and chips. The book is unique in covering the EOS manufacturing issues from on-chip design and electronic design automation to factory-level EOS program management in today’s modern world.

Look inside for extensive coverage on:

• Fundamentals of  electrical overstress, from EOS physics, EOS time scales, safe operating area (SOA),  to physical models for EOS phenomena
• EOS sources in today’s semiconductor manufacturing environment, and EOS program management, handling and EOS auditing processing to avoid EOS failures
• EOS failures in both semiconductor devices, circuits and system
• Discussion of how to distinguish between EOS events, and electrostatic discharge (ESD) events (e.g. such as human body model (HBM), charged device model (CDM), cable discharge events (CDM), charged board events (CBE), to system level IEC 61000-4-2 test events)
• EOS  protection on-chip design practices and how they differ from ESD protection networks and solutions
• Discussion of EOS system level concerns in printed circuit boards (PCB), and manufacturing equipment
• Examples of EOS issues in state-of-the-art digital, analog and power technologies including CMOS, LDMOS, and BCD
• EOS design rule checking (DRC), LVS, and ERC electronic design automation (EDA) and how it is distinct from ESD EDA systems
• EOS testing and qualification techniques, and
• Practical off-chip ESD protection and system level solutions to provide more robust systems

Electrical Overstress (EOS): Devices, Circuits and Systems is a continuation of the author’s series of books on ESD protection. It is an essential reference and a useful insight into the issues that confront modern technology as we enter the nano-electronic era.

Content:
Chapter 1 Fundamentals of Electrical Overstress (pages 1 –35):
Chapter 2 Fundamentals of EOS Models (pages 36–86):
Chapter 3 EOS, ESD, EMI, EMC and Latchup (pages 87–101):
Chapter 4 EOS Failure Analysis (pages 102–132):
Chapter 5 EOS Testing and Simulation (pages 133–165):
Chapter 6 EOS Robustness – Semiconductor Technologies (pages 166–195):
Chapter 7 EOS Design – Chip Level Design and Floor Planning (pages 196 –212):
Chapter 8 EOS Design – Chip Level Circuit Design (pages 213–239):
Chapter 9 EOS Prevention and Control (pages 240–262):
Chapter 10 EOS Design – Electronic Design Automation (pages 263–284):
Chapter 11 EOS Program Management (pages 285–300):
Chapter 12 Electrical Overstress in Future Technologies (pages 301–327):