Elastic and Inelastic Scattering in Electron Diffraction and Imaging

پراکندگی الاستیک و غیرالاستیک در میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) موضوعات مهم تحقیقاتی هستند. برای مدت طولانی، من آرزو داشتم به طور سیستماتیک نظریه های دینامیکی مختلف مرتبط با کپی میکروهای الکترونی کمی و کاربردهای آنها در شبیه سازی الگوهای پراش الکترونی و تصاویر را خلاصه کنم. این آرزو اکنون به واقعیت تبدیل می شود. هدف این کتاب بررسی فیزیک در پراش الکترون و تصویربرداری و کاربردهای مرتبط برای توصیف مواد است. تاکید ویژه ای بر پراش و تصویربرداری از الکترون های پراکنده غیرکشسانی است که به اعتقاد من در کتاب های موجود به طور گسترده مورد بحث قرار نگرفته است. این کتاب فرض می‌کند که خوانندگان از میکروسکوپ الکترونی، پراش الکترونی و مکانیک کوانتومی آگاهی دارند. من پیش بینی می کنم که این کتاب راهنمای نزدیک شدن به پدیده های مشاهده شده در میکروسکوپ الکترونی از چشم انداز فیزیک پراش باشد. واحدهای SI در سراسر کتاب به‌جز انگستروم (A) استفاده می‌شوند که گهگاه برای راحتی استفاده می‌شود. برای کاهش تعداد نمادهای استفاده شده، تبدیل فوریه یک تابع فضای واقعی P'(r)، به عنوان مثال، با همان نماد P'(u) در فضای متقابل نشان داده می شود، با این تفاوت که r با u جایگزین می شود. حد بالایی و پایینی یک انتگرال در کتاب (-co، co) است مگر اینکه طور دیگری مشخص شده باشد. حدود انتگرال (-co, co) معمولاً در یک عبارت ریاضی برای ساده سازی حذف می شوند. من از فرصت کار با دکتر بسیار قدردانی می کنم. J. M. Cowley و J. C. H. Spence (دانشگاه ایالتی آریزونا)، J.

Elastic and inelastic scattering in transmission electron microscopy (TEM) are important research subjects. For a long time, I have wished to systematically summarize various dynamic theories associated with quantitative electron micros­ copy and their applications in simulations of electron diffraction patterns and images. This wish now becomes reality. The aim of this book is to explore the physics in electron diffraction and imaging and related applications for materials characterizations. Particular emphasis is placed on diffraction and imaging of inelastically scattered electrons, which, I believe, have not been discussed exten­ sively in existing books. This book assumes that readers have some preknowledge of electron microscopy, electron diffraction, and quantum mechanics. I anticipate that this book will be a guide to approaching phenomena observed in electron microscopy from the prospects of diffraction physics. The SI units are employed throughout the book except for angstrom (A), which is used occasionally for convenience. To reduce the number of symbols used, the Fourier transform of a real-space function P'(r), for example, is denoted by the same symbol P'(u) in reciprocal space except that r is replaced by u. Upper and lower limits of an integral in the book are (-co, co) unless otherwise specified. The (-co, co) integral limits are usually omitted in a mathematical expression for simplification. I very much appreciate opportunity of working with Drs. J. M. Cowley and J. C. H. Spence (Arizona State University), J.