Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links

با افزایش تقاضا برای پهنای باند داده بالاتر، نرخ داده سیستم های ارتباطی به محدوده چند گیگاهرتز و حتی فراتر از آن رسیده است. پیشرفت‌ها در فناوری‌های نیمه‌رسانا، پذیرش رابط‌های سریالی پرسرعت، مانند PCI-Express، Serial-ATA، و XAUI را تسریع کرده است تا تعداد پین‌های بالا و مشکلات انحراف کانال داده را کاهش دهد. با این حال، با افزایش تعداد پین‌های ورودی/خروجی و نرخ داده‌های بیشتر، چالش‌های مهمی برای آزمایش رابط‌های پرسرعت از نظر هزینه و کیفیت تست، به‌ویژه در محیط‌های تولید با حجم بالا (HVM) ایجاد می‌شود. روش‌های تست کارآمد برای پیوندهای سریال پرسرعت چندین تکنیک جدید و امیدوارکننده برای آزمایش مقرون‌به‌صرفه رابط‌های پرسرعت با پوشش تست بالا را به تفصیل شرح می‌دهد. یکی از تمرکز اصلی روش‌های تست کارآمد برای لینک‌های سریال پرسرعت روی روش‌های آزمایش کارآمد برای نرخ لرزش و بیت خطا (BER) است که به طور گسترده برای تعیین کمیت یک سیستم ارتباطی استفاده می‌شود. تجزیه و تحلیل های مختلف و همچنین نتایج تجربی برای نشان دادن اعتبار تکنیک های ارائه شده ارائه شده است.

With the increasing demand for higher data bandwidth, communication systems’ data rates have reached the multi-gigahertz range and even beyond. Advances in semiconductor technologies have accelerated the adoption of high-speed serial interfaces, such as PCI-Express, Serial-ATA, and XAUI, in order to mitigate the high pin-count and the data-channel skewing problems. However, with the increasing number of I/O pins and greater data rates, significant challenges arise for testing high-speed interfaces in terms of test cost and quality, especially in high volume manufacturing (HVM) environments. Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links describes in detail several new and promising techniques for cost-effectively testing high-speed interfaces with a high test coverage. One primary focus of Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links is on efficient testing methods for jitter and bit-error-rate (BER), which are widely used for quantifying the quality of a communication system. Various analysis as well as experimental results are presented to demonstrate the validity of the presented techniques.