ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Dopants and Defects in Semiconductors, Second Edition

دانلود کتاب ناخالصی ها و عیوب در نیمه هادی ها، ویرایش دوم

Dopants and Defects in Semiconductors, Second Edition

مشخصات کتاب

Dopants and Defects in Semiconductors, Second Edition

ویرایش: 2nd 
نویسندگان: ,   
سری:  
ISBN (شابک) : 9781138035195, 1351977970 
ناشر: CRC Press 
سال نشر: 2018 
تعداد صفحات: 373 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 43 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 45,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 26


در صورت تبدیل فایل کتاب Dopants and Defects in Semiconductors, Second Edition به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب ناخالصی ها و عیوب در نیمه هادی ها، ویرایش دوم نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب ناخالصی ها و عیوب در نیمه هادی ها، ویرایش دوم

تمجید برای نسخه اول

"این کتاب فراتر از کتاب درسی معمولی است زیرا نمونه های خاص تری از فیزیک نقص های دنیای واقعی را ارائه می دهد ... خواندنی آسان و مقدماتی کلی از این زمینه"
مواد امروز

..''. به خوبی نوشته شده است، با توضیحات روشن و شفاف ...''
―Chemistry World



این نسخه اصلاح شده کاملترین نسخه را ارائه می دهد. ، پوشش به روز دانش بنیادی نیمه هادی ها، شامل فصل جدیدی است که در مورد آخرین فناوری و کاربردهای نیمه هادی ها گسترش می یابد. علاوه بر گنجاندن مسائل فصل اضافی و مثال های کار شده، جزئیات بیشتری در مورد روشنایی حالت جامد (LED ها و دیودهای لیزری) ارائه می دهد. نویسندگان به یک نمای کلی از مواد ناخالص و عیوب دست یافته اند و پایه محکمی برای روش های تجربی و نظریه نقص در نیمه هادی ها ارائه می دهند.

متیو دی. مک کلاسکی، استاد دانشگاه گروه فیزیک و نجوم و برنامه علوم مواد در دانشگاه ایالتی واشنگتن (WSU)، پولمن، واشنگتن. او دکترای فیزیک گرفت. از دانشگاه کالیفرنیا (UC)، برکلی.

یوجین ای. هالر، استاد بازنشسته در دانشگاه کالیفرنیا، برکلی، و عضو آکادمی ملی مهندسی. او مدرک دکتری گرفت. در حالت جامد و فیزیک کاربردی از دانشگاه بازل، سوئیس.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Praise for the First Edition

''The book goes beyond the usual textbook in that it provides more specific examples of real-world defect physics ... an easy reading, broad introductory overview of the field''
Materials Today

..''. well written, with clear, lucid explanations ...''
―Chemistry World



This revised edition provides the most complete, up-to-date coverage of the fundamental knowledge of semiconductors, including a new chapter that expands on the latest technology and applications of semiconductors. In addition to inclusion of additional chapter problems and worked examples, it provides more detail on solid-state lighting (LEDs and laser diodes). The authors have achieved a unified overview of dopants and defects, offering a solid foundation for experimental methods and the theory of defects in semiconductors.

Matthew D. McCluskey is a professor in the Department of Physics and Astronomy and Materials Science Program at Washington State University (WSU), Pullman, Washington. He received a Physics Ph.D. from the University of California (UC), Berkeley.

Eugene E. Haller is a professor emeritus at the University of California, Berkeley, and a member of the National Academy of Engineering. He received a Ph.D. in Solid State and Applied Physics from the University of Basel, Switzerland.



فهرست مطالب

Content: 1. Semiconductor Basics 1.1 Historical Overview 1.2 Cubic Crystals 1.3 Other Crystals 1.4 Phonons and the Brillouin Zone 1.5 The Band Gap 1.6 Band Theory 1.7 Electrons and Holes 1.8 Doping 1.9 Optical Properties1.10 Electronic Transport1.11 Examples of Semiconductors 2. Defect Classifications 2.1 Basic Definitions 2.2 Energy Levels 2.3 Examples of Native Defects 2.4 Examples of Nonhydrogenic Impurities 2.5 Hydrogen 2.6 Defect Symmetry 2.7 Dislocations 3. Interfaces and Devices 3.1 Ideal Metal-Semiconductor Junctions 3.2 Real Metal-Semiconductor Junctions 3.3 Depletion Width 3.4 The p-n Junction 3.5 Applications of p-n Junctions 3.6 The Metal-Oxide-Semiconductor Junction 3.7 The Charge-Coupled Device3.8 Light Emitting Devices3.9 The 2D Electron Gas 4. Crystal Growth and Doping 4.1 Bulk Crystal Growth 4.2 Dopant Incorporation during Bulk Crystal Growth 4.3 Thin Film Growth 4.4 Liquid Phase Epitaxy 4.5 Chemical Vapor Deposition 4.6 Molecular Beam Epitaxy 4.7 Alloying 4.8 Doping by Diffusion 4.9 Ion Implantation 4.10 Annealing and Dopant Activation 4.11 Neutron Transmutation 5. Electronic Properties 5.1 Hydrogenic Model 5.2 Wave Function Symmetry 5.3 Donor and Acceptor Wave Functions 5.4 Deep Levels 5.5 Carrier Concentrations as a Function of Temperature 5.6 Freeze-Out Curves 5.7 Scattering Processes 5.8 Hopping and Impurity Band Conduction5.9 Spintronics 6. Vibrational Properties 6.1 Phonons 6.2 Defect Vibrational Modes 6.3 Infrared Absorption 6.4 Interactions and Lifetimes 6.5 Raman Scattering 6.6 Wave Functions and Symmetry 6.7 Oxygen in Silicon and Germanium 6.8 Impurity Vibrational Modes in GaAs 6.9 Hydrogen Vibrational Modes 7. Optical Properties 7.1 Free-Carrier Absorption and Reflection 7.2 Lattice Vibrations 7.3 Dipole Transitions 7.4 Band-Gap Absorption 7.5 Carrier Dynamics 7.6 Exciton and Donor-Acceptor Emission 7.7 Isoelectronic Impurities 7.8 Lattice Relaxation 7.9 Transition Metals 8. Thermal Properties 8.1 Defect Formation 8.2 Charge State 8.3 Chemical Potential 8.4 Diffusion8.5 Microscopic Mechanisms of Diffusion 8.6 Self-Diffusion 8.7 Dopant Diffusion 8.8 Quantum-Well Intermixing 9. Electrical Measurements 9.1 Resistivity and Conductivity 9.2 Methods of Measuring Resistivity 9.3 Hall Effect 9.4 Capacitance-Voltage Profiling 9.5 Carrier Emission and Capture 9.6 Deep-Level Transient Spectroscopy 9.7 Minority Carriers and Deep-Level Transient Spectroscopy 9.8 Minority Carrier Lifetime 9.9 Thermoelectric Effect 10. Optical Spectroscopy 10.1 Absorption 10.2 Emission 10.3 Raman Spectroscopy 10.4 Fourier Transform Infrared Spectroscopy 10.5 Photoconductivity 10.6 Time-Resolved Techniques 10.7 Applied Stress 10.8 Electron Paramagnetic Resonance 10.9 Optically Detected Magnetic Resonance 10.10 Electron Nuclear Double Resonance 11. Particle-Beam Methods 11.1 Rutherford Backscattering Spectrometry 11.2 Ion Range 11.3 Secondary Ion Mass Spectrometry 11.4 X-Ray Emission 11.5 X-Ray Absorption 11.6 Photoelectric Effect 11.7 Electron Beams 11.8 Positron Annihilation 11.9 Muons 11.10 Perturbed Angular Correlation Spectroscopy 11.11 Nuclear Reactions 12. Microscopy and Structural Characterization 12.1 Optical Microscopy 12.2 Scanning Electron Microscopy 12.3 Cathodoluminescence 12.4 Electron Beam Induced Current Microscopy 12.5 Diffraction 12.6 Transmission Electron Microscopy 12.7 Scanning Probe Microscopy




نظرات کاربران