دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Digital Circuit Testing. A Guide to DFT and Other Techniques
دانلود کتاب تست مدار دیجیتال راهنمای DFT و سایر تکنیک ها
مشخصات کتاب
Digital Circuit Testing. A Guide to DFT and Other Techniques
ویرایش:
نویسندگان: Francis C. Wong (Auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9780127345802, 0127345809
ناشر: Academic Press
سال نشر: 1991
تعداد صفحات: 238
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 14 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 70,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Digital Circuit Testing. A Guide to DFT and Other Techniques به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تست مدار دیجیتال راهنمای DFT و سایر تکنیک ها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب تست مدار دیجیتال راهنمای DFT و سایر تکنیک ها
پیشرفتهای فناوری اخیر یک بحران آزمایشی در صنعت الکترونیک ایجاد کرده است - مدارهای الکترونیکی کوچکتر و یکپارچهتر و تکنیکهای بستهبندی جدید دسترسی فیزیکی به گرههای تست را به طور فزایندهای دشوار میکنند. روشهای تست جدید برای نسل بعدی تجهیزات الکترونیکی مورد نیاز است و تاکید زیادی بر توسعه این روشها شده است. برخی از تکنیک هایی که اکنون محبوب شده اند عبارتند از طراحی برای آزمایش پذیری (DFT)، خودآزمایی داخلی (BIST) و تولید خودکار آزمایشی بردار (ATVG). این کتاب مقدمه ای عملی برای این تکنیک ها و سایر تکنیک های تست ارائه می کند. برای هر تکنیک معرفی شده، نویسنده نمونه هایی در دنیای واقعی ارائه می دهد تا خواننده بتواند به دانش کاری در مورد نحوه انتخاب و به کارگیری این روش های آزمایشی که به طور فزاینده ای مهم هستند دست یابد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Recent technological advances have created a testing crisis in the electronics industry--smaller, more highly integrated electronic circuits and new packaging techniques make it increasingly difficult to physically access test nodes. New testing methods are needed for the next generation of electronic equipment and a great deal of emphasis is being placed on the development of these methods. Some of the techniques now becoming popular include design for testability (DFT), built-in self-test (BIST), and automatic test vector generation (ATVG). This book will provide a practical introduction to these and other testing techniques. For each technique introduced, the author provides real-world examples so the reader can achieve a working knowledge of how to choose and apply these increasingly important testing methods.
فهرست مطالب
Content:
Front Matter, Page iii
Copyright, Page iv
Preface, Pages ix-xi
Chapter 1 - Introduction, Pages 1-36
Chapter 2 - A Test Generation Method Using Testability Results, Pages 37-75
Chapter 3 - Sequential Circuit ATVG and DFT, Pages 76-117
Chapter 4 - PLD Design for Test, Pages 118-145
Chapter 5 - Built-In Self Test and Boundary Scan Techniques, Pages 146-190
Chapter 6 - ATE and the Testing Process, Pages 191-216
Chapter 7 - Special Testing Topics and Conclusions, Pages 217-228
Index, Pages 229-233
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Who Do You Think You Are?: 12 Methods For Analyzing the Real You
دانلود کتاب Choose It! Finding the Right Research Topic
دانلود کتاب The Astrology of Human Relationships
