دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 2., rev. ed
نویسندگان: S Amelinckx (Eds.)
سری:
ISBN (شابک) : 9780444851284, 0444851283
ناشر: North-Holland Publ. Comp
سال نشر: 1978
تعداد صفحات: 451
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 19 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Diffraction and Imaging Techniques in Material Science. Electron Microscopy به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پراش و تکنیک های تصویربرداری در علم مواد. میکروسکوپ الکترونی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
Content:
Front Matter, Page iii
Copyright, Page iv
PREFACE TO THE FIRST EDITION, Page v,The Organizing Committee
PREFACE TO THE SECOND EDITION, Page vi,The Editors
GENERAL REVIEW OF THE EXPERIMENTAL METHODS FOR THE DETERMINATION OF ATOMIC STRUCTURES, Pages 3-6, A. GUINIER
KINEMATICAL THEORY OF ELECTRON DIFFRACTION, Pages 9-41, R. GEVERS
DYNAMICAL THEORY OF ELECTRON DIFFRACTION, Pages 43-106, M.J. WHELAN
THE STUDY OF PLANAR INTERFACES BY MEANS OF ELECTRON MICROSCOPY, Pages 107-151, S. AMELINCKX, J. Van LANDUYT
THE WEAK-BEAM METHOD OF ELECTRON MICROSCOPY, Pages 153-183, D.J.H. COCKAYNE
IDENTIFICATION OF SMALL DEFECT CLUSTERS IN PARTICLE-IRRADIATED CRYSTALS BY MEANS OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY, Pages 185-215, M. WILKENS
SOME APPLICATIONS OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY TO PHASE TRANSITIONS, Pages 217-249, G. THOMAS
MARTENSITIC TRANSFORMATIONS: ELECTRON MICROSCOPY AND DIFFRACTION STUDIES, Pages 251-314, C.M. WAYMAN
COMPUTED ELECTRON MICROGRAPHS AND THEIR USE IN DEFECT IDENTIFICATION, Pages 315-353, P. HUMBLE
DIRECT STRUCTURE IMAGING IN ELECTRON MICROSCOPY, Pages 355-396, D. VAN DYCK
KIKUCHI ELECTRON DIFFRACTION AND APPLICATIONS, Pages 399-427, G. THOMAS
STUDY OF SUBSTITUTION ORDER-DISORDER BY MEANS OF X-RAY AND ELECTRON DIFFRACTION, Pages 429-453, R. DE RIDDER
SUBJECT INDEX TO VOLUMES I AND II, Pages xi-xvii