ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Design to Test: A Definitive Guide for Electronic Design, Manufacture, and Service

دانلود کتاب طراحی برای آزمایش: راهنمای قطعی برای طراحی ، ساخت و خدمات الکترونیکی

Design to Test: A Definitive Guide for Electronic Design, Manufacture, and Service

مشخصات کتاب

Design to Test: A Definitive Guide for Electronic Design, Manufacture, and Service

ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 9789401160469, 9789401160445 
ناشر: Springer Netherlands 
سال نشر: 1990 
تعداد صفحات: 380 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 9 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 38,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب طراحی برای آزمایش: راهنمای قطعی برای طراحی ، ساخت و خدمات الکترونیکی: علم، عمومی



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 8


در صورت تبدیل فایل کتاب Design to Test: A Definitive Guide for Electronic Design, Manufacture, and Service به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب طراحی برای آزمایش: راهنمای قطعی برای طراحی ، ساخت و خدمات الکترونیکی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب طراحی برای آزمایش: راهنمای قطعی برای طراحی ، ساخت و خدمات الکترونیکی



این کتاب ویرایش دوم طراحی برای آزمایش است. چاپ اول که توسط من و اچ فرانک بینندیک نوشته شد و اولین بار در سال 1982 منتشر شد، چندین بار چاپ شده و در بسیاری از شرکت ها، حتی در برخی کشورها، به استاندارد تبدیل شده است. هم فرانک و هم من به موفقیتی که مشتریانمان در استفاده از اطلاعات به دست آورده اند بسیار مفتخریم. اما شش سال در هر زمینه فناوری زمان زیادی است. بنابراین احساس کردم زمان آن رسیده است که یک نسخه جدید بنویسم. این نسخه جدید، در حالی که اصول اولیه آزمایش‌پذیری را که برای اولین بار شش سال پیش مستند شده بود، حفظ می‌کند، حاوی آخرین مطالب در مورد تکنیک‌های آزمایش‌پذیری پیشرفته برای دستگاه‌های الکترونیکی، بردها و سیستم‌ها است و کاملاً بازنویسی و به‌روز شده است. فصل 15 از چاپ اول به ضمیمه تبدیل شده است. فصل 6 برای پوشش آخرین دستگاه های فناوری گسترش یافته است. فصل 1 اصلاح شده است و چندین نمونه در سراسر کتاب اصلاح و به روز شده است. اما بعضی اوقات هر چه چیزها بیشتر تغییر کنند، بیشتر ثابت می مانند. تمامی رهنمودها و اطلاعات ارائه شده در این کتاب با سه اصل اساسی آزمون پذیری - پارتیشن بندی، کنترل و قابل مشاهده بودن سروکار دارند. سال هاست که تغییر نکرده اند. اما بسیاری از مردم در مورد نحوه اجرای این سه اصل اساسی توانایی آزمون هوشمندتر شده اند، و هدف این متن روشن کردن خواننده در مورد تکنیک های جدید (و قدیمی) اجرای آزمایش پذیری است.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book is the second edition of Design to Test. The first edition, written by myself and H. Frank Binnendyk and first published in 1982, has undergone several printings and become a standard in many companies, even in some countries. Both Frank and I are very proud of the success that our customers have had in utilizing the information, all of it still applicable to today's electronic designs. But six years is a long time in any technology field. I therefore felt it was time to write a new edition. This new edition, while retaining the basic testability prin­ ciples first documented six years ago, contains the latest material on state-of-the-art testability techniques for electronic devices, boards, and systems and has been completely rewritten and up­ dated. Chapter 15 from the first edition has been converted to an appendix. Chapter 6 has been expanded to cover the latest tech­ nology devices. Chapter 1 has been revised, and several examples throughout the book have been revised and updated. But some­ times the more things change, the more they stay the same. All of the guidelines and information presented in this book deal with the three basic testability principles-partitioning, control, and visibility. They have not changed in years. But many people have gotten smarter about how to implement those three basic test­ ability principles, and it is the aim of this text to enlighten the reader regarding those new (and old) testability implementation techniques.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-xxii
Introduction....Pages 1-20
System Guidelines....Pages 21-34
General Digital Circuit Guidelines....Pages 35-64
General Analog Guidelines....Pages 65-88
LSI/VLSI Board Level Guidelines....Pages 89-108
Merchant Devices on Boards....Pages 109-160
LSI/VLSI ASIC Level Techniques....Pages 161-183
Boundary Scan....Pages 185-205
Built-In Test Approaches....Pages 207-224
Testability Busses....Pages 225-249
Mechanical Guidelines....Pages 251-261
Surface Mount Technology Guidelines....Pages 263-272
Software Guidelines....Pages 273-281
Testability Documentation....Pages 283-290
Implementation Guidelines....Pages 291-297
Test Techniques and Strategies....Pages 299-317
Back Matter....Pages 319-368




نظرات کاربران