دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: آمار ریاضی ویرایش: 1 نویسندگان: István Berkes, Lajos Horváth, Johannes Schauer (auth.), Paul Doukhan, Gabriel Lang, Donatas Surgailis, Gilles Teyssière (eds.) سری: Lecture Notes in Statistics 200 ISBN (شابک) : 364214103X, 9783642141041 ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg سال نشر: 2010 تعداد صفحات: 224 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 2 مگابایت
در صورت ایرانی بودن نویسنده امکان دانلود وجود ندارد و مبلغ عودت داده خواهد شد
کلمات کلیدی مربوط به کتاب وابستگی در احتمال و آمار: برنامه های آمار و محاسبات/آمار، نظریه و روش های آماری
در صورت تبدیل فایل کتاب Dependence in Probability and Statistics به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب وابستگی در احتمال و آمار نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این جلد آثار اخیر را در مورد فرآیندهای وابسته ضعیف، حافظه طولانی و چندفرکتالی جمعآوری میکند و معیارهای وابستگی جدیدی را برای مطالعه سیستمهای تصادفی پیچیده معرفی میکند. موضوعات دیگر عبارتند از تئوری آماری برای بوت استرپ و آمار جایگشت برای فرآیندهای واریانس بی نهایت، ساختار وابستگی فرآیندهای حداکثر پایدار، و خواص آماری تخمینگرهای طیفی پارامتر حافظه طولانی. رفتار مجانبی انتگرالهای گراف فجر و استفاده از آنها برای اثبات قضایای حد مرکزی برای برآوردگرهای مخروطی بررسی شدهاند. فرآیندهای چندفراکتالی جدید معرفی شده و خواص چندفراکتالی آنها مورد تجزیه و تحلیل قرار می گیرد. روشهای مبتنی بر موجک برای مطالعه فرآیندهای چندفراکتالی با کمیتهای چندفراکشن مختلف و تشخیص تغییرات در واریانس فرآیندهای تصادفی استفاده میشوند. مدلهای رگرسیون خطی با خطاهای وابسته دوربرد، و همچنین مسئله تشخیص تغییرات در پارامترهای آنها مورد مطالعه قرار میگیرند.
This volume collects recent works on weakly dependent, long-memory and multifractal processes and introduces new dependence measures for studying complex stochastic systems. Other topics include the statistical theory for bootstrap and permutation statistics for infinite variance processes, the dependence structure of max-stable processes, and the statistical properties of spectral estimators of the long memory parameter. The asymptotic behavior of Fejér graph integrals and their use for proving central limit theorems for tapered estimators are investigated. New multifractal processes are introduced and their multifractal properties analyzed. Wavelet-based methods are used to study multifractal processes with different multiresolution quantities, and to detect changes in the variance of random processes. Linear regression models with long-range dependent errors are studied, as is the issue of detecting changes in their parameters.
Front Matter....Pages i-xv
Permutation and bootstrap statistics under infinite variance....Pages 1-20
Max–Stable Processes: Representations, Ergodic Properties and Statistical Applications....Pages 21-42
Best attainable rates of convergence for the estimation of the memory parameter....Pages 43-57
Harmonic analysis tools for statistical inference in the spectral domain....Pages 59-70
On the impact of the number of vanishing moments on the dependence structures of compound Poisson motion and fractional Brownian motion in multifractal time....Pages 71-101
Multifractal scenarios for products of geometric Ornstein-Uhlenbeck type processes....Pages 103-122
A new look at measuring dependence....Pages 123-142
Robust regression with infinite moving average errors....Pages 143-157
A note on the monitoring of changes in linear models with dependent errors....Pages 159-174
Testing for homogeneity of variance in the wavelet domain.....Pages 175-205
Back Matter....Pages 206-208