ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Crucial Issues in Semiconductor Materials and Processing Technologies

دانلود کتاب مسائل مهم در مواد نیمه هادی و فن آوری های پردازش

Crucial Issues in Semiconductor Materials and Processing Technologies

مشخصات کتاب

Crucial Issues in Semiconductor Materials and Processing Technologies

ویرایش: 1 
نویسندگان: , , , ,   
سری: NATO ASI Series 222 
ISBN (شابک) : 9789401052030, 9789401127141 
ناشر: Springer Netherlands 
سال نشر: 1992 
تعداد صفحات: 522 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 19 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 42,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب مسائل مهم در مواد نیمه هادی و فن آوری های پردازش: مواد نوری و الکترونیک، مهندسی برق



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 15


در صورت تبدیل فایل کتاب Crucial Issues in Semiconductor Materials and Processing Technologies به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب مسائل مهم در مواد نیمه هادی و فن آوری های پردازش نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب مسائل مهم در مواد نیمه هادی و فن آوری های پردازش



نیمه هادی ها در قلب برخی از مهم ترین صنایع و فناوری های قرن بیستم قرار دارند. پیچیدگی مدارهای مجتمع سیلیکونی به دلیل انقباض مداوم ابعادی برای بهبود کارایی و عملکرد به طور قابل توجهی در حال افزایش است. این تحول در قوانین طراحی چالش های واقعی را برای دانشمندان مواد و مهندسان پردازش ایجاد می کند. اکنون مواد، عیوب و پردازش باید در کلیت آنها درک شوند. کارشناسان جهانی در این جلد، مسائل مهمی را که با لیتوگرافی، کاربرد یون و پردازش پلاسما، فلزی شدن و کیفیت لایه عایق و رشد کریستال مواجه است، مورد بحث قرار می دهند. تأکید ویژه بر سیلیکون است، اما نیمه هادی های مرکب و مواد فوتونی نیز برجسته شده اند. مفاهیم اساسی پایداری فاز، رابط ها و عیوب نقش کلیدی در درک این مسائل حیاتی دارند. این مفاهیم به شکلی حیاتی بررسی می شوند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Semiconductors lie at the heart of some of the most important industries and technologies of the twentieth century. The complexity of silicon integrated circuits is increasing considerably because of the continuous dimensional shrinkage to improve efficiency and functionality. This evolution in design rules poses real challenges for the materials scientists and processing engineers. Materials, defects and processing now have to be understood in their totality. World experts discuss, in this volume, the crucial issues facing lithography, ion implication and plasma processing, metallization and insulating layer quality, and crystal growth. Particular emphasis is placed upon silicon, but compound semiconductors and photonic materials are also highlighted. The fundamental concepts of phase stability, interfaces and defects play a key role in understanding these crucial issues. These concepts are reviewed in a crucial fashion.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-xix
Front Matter....Pages 1-1
Defect Aspects of Advanced Device Technologies....Pages 3-25
Field Effect Analysis in Low Voltage Operation a-Si:H Thin Film Transistors with Very Thin Pecvd a-SiO 2 Gate Dielectric....Pages 27-31
Silicon and Silicon:Germanium Alloy Growth; Means and Applications....Pages 33-47
Preparation and Characterization of Silicon Ribbons....Pages 49-53
Rapid Thermal Chemical Vapor Deposition of Si x Ge 1-x Alloys on Si and SiO 2 and New Applications of Si x Ge 1-x Alloys in Advanced Mosfet Processes....Pages 55-59
Kinetics and Dynamics of MBE Growth....Pages 61-77
Effects of Near-Interface Defects on the Optical Properties of MBE Grown GaAs/AlGaAs Layers....Pages 79-82
Optoelectronic Materials....Pages 83-101
Electrical Characteristics of PECVD Silicon Nitride / Compound Semiconductor Interfaces for Optoelectronic Device Passivation....Pages 103-107
Front Matter....Pages 109-109
Fundamentals of Semiconductor Processing....Pages 111-117
Optical Analysis of Oxygen in Epitaxial Silicon....Pages 119-127
Electrical Properties of “Clean” and Fe — Decorated Stacking Faults in P-Type Silicon....Pages 129-133
On the Dirty Contacts on N-Type Silicon....Pages 135-139
Mössbauer Study of the Dx-Center in Te-Implanted Al x Ga 1-x As....Pages 141-145
Surface Science and Semiconductor Processing....Pages 147-152
Lithography for Manufacturing at 0.25 Micrometer and Below....Pages 153-166
Basic Aspects of Ion Implantation....Pages 167-194
Trends in Ion Implantation for Semiconductor and Optical Materials Research....Pages 195-205
Orientation Phenomena in MeV Implants of P IN Si....Pages 207-211
Deep Implants by Means of Channeling: Ion Distribution and Radiation Damage in Angle Controlled N+ Implantation in Silicon....Pages 213-217
Front Matter....Pages 109-109
Dislocation formation in Si implanted at elevated temperature....Pages 219-224
Preparation and Characterisation of Thin Film Simox Material....Pages 225-232
The effect of electronic energy loss on epitaxial YBa 2 Cu 3 O 7 thin films after heavy ion irradiation and annealing up to room temperature....Pages 233-238
Structural Study of the Epitaxial Realignment of Polycrystalline Si Films Onto Si Substrates....Pages 239-244
Plasma Immersion Ion Implantation: A Perspective....Pages 245-249
A Sheet Stress Measurement Technique Using Thin Films to Measure Stresses in Inert-Gas Implanted Silicon....Pages 251-255
Plasma Etching Processes....Pages 257-275
Front Matter....Pages 277-277
Charge Trapping, Degradation and Wearout of Thin Dielectric Layers During Electrical Stressing....Pages 279-297
Minority carrier lifetime measurements after high temperature pre-treatment....Pages 299-304
Copper-Based Metallization....Pages 305-320
Thermal Stability of Titanium-Molybdenum and Titanium-Copper Bilayer Thin Films on Alumina....Pages 321-325
Hyperfine Fields in Epitaxially Grown Co on Gaas....Pages 327-330
Titanium Nitride Process Development....Pages 331-335
Materials aspects and implementation of silicides for ULSI....Pages 337-361
Ion Beam Synthesis of Buried Iron Disilicide....Pages 363-368
Diffusion in Cobalt Silicide During Silicide Formation....Pages 369-374
Formation of Germanides by Rapid Thermal Annealing and their Applications in Advanced Mosfet Processes....Pages 375-380
Front Matter....Pages 381-381
Diffusion in Crystalline Silicon and Germanium — the State-of-the-Art in Brief....Pages 383-402
Symmetry Methods in Diffusion....Pages 403-407
Diffusion of Gold in Sputtered Amorphous Silicon....Pages 409-413
Front Matter....Pages 381-381
Dopant Diffusion and Point Defects in Silicon During Silicidation....Pages 415-419
Lateral Diffusion Couples and Their Contribution to Understanding Thin Film Reactions....Pages 421-425
Diffusion and Defects in Amorphous Silicon....Pages 427-444
EPR Study of Defects Produced by Mev Ion Implantation Into Silicon....Pages 445-449
Vacancy Character of Damage Zones in Ion-Irradiated Silicon....Pages 451-457
Multiple Amorphous States in Ion Implanted Semiconductors (Si and InP)....Pages 459-464
The Mechanism of Solid Phase Epitaxy....Pages 465-476
The Amorphous Side of Solid Phase Epitaxy....Pages 477-482
Metal-Enhanced Growth of Silicon....Pages 483-499
Ion-Assisted Phase Transitions in Silicon....Pages 501-522
Ion-Assisted Nucleation in Amorphous Silicon....Pages 523-528
Back Matter....Pages 529-538




نظرات کاربران