دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Cracking failures in lead-on-chip packages induced by chip backside contamination :MASAZUMI AMAGAI, HIDEO SENO and KAZUYOSHI EBE. IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology, Part B, 18(1), 119 (February 1995)
دانلود کتاب خرابی های ترک در بسته های سرب روی تراشه ناشی از آلودگی پشت تراشه: MASAZUMI AMAGAI، HIDEO SENO و KAZUYOSHI EBE. معاملات IEEE در مورد قطعات، بسته بندی و فناوری ساخت، بخش B، 18 (1)، 119 (فوریه 1995)
مشخصات کتاب
Cracking failures in lead-on-chip packages induced by chip backside contamination :MASAZUMI AMAGAI, HIDEO SENO and KAZUYOSHI EBE. IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology, Part B, 18(1), 119 (February 1995)
ویرایش: سری: ناشر: سال نشر: تعداد صفحات: 245 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 14 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 52,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Cracking failures in lead-on-chip packages induced by chip backside contamination :MASAZUMI AMAGAI, HIDEO SENO and KAZUYOSHI EBE. IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology, Part B, 18(1), 119 (February 1995) به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب خرابی های ترک در بسته های سرب روی تراشه ناشی از آلودگی پشت تراشه: MASAZUMI AMAGAI، HIDEO SENO و KAZUYOSHI EBE. معاملات IEEE در مورد قطعات، بسته بندی و فناوری ساخت، بخش B، 18 (1)، 119 (فوریه 1995) نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Market, Regulations and Finance: Global Meltdown and the Indian Economy
دانلود کتاب The Theory and Practice for Children’s Contextualized Learning of Their First Language
دانلود کتاب Grammar of the Bórnu or Kānurī language
