دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: نویسندگان: A.K. HEAD, P. HUMBLE, L.M. CLAREBROUGH, A.J. MORTON and C.T. FORWOOD (Eds.) سری: Defects in Crystalline Solids 7 ISBN (شابک) : 9780720417579 ناشر: Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S سال نشر: 1973 تعداد صفحات: 1-400 [400] زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 12 Mb
در صورت تبدیل فایل کتاب Computed Electron Micrographs and Defect Identification به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروگراف های الکترونیکی محاسبه شده و شناسایی نقص نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
میکروگراف های الکترونیکی محاسبه شده و شناسایی نقص ...
Computed Electron Micrographs And Defect Identification...
Content:
Series: Defects in Crystalline Solids
Page II
Front Matter
Page III
Copyright page
Page IV
Preface
Pages V-VI
1 - Introduction
Pages 1-6
2 - Introduction to the Basic Theory
Pages 7-38
3 - Experimental Techniques
Pages 39-84
4 - Principles of Onedis
Pages 85-123
5 - Matching with Onedis
Pages 125-143
6 - Principles of Twodis
Pages 145-173
7 - Matching with Twodis
Pages 175-200
8 - Applications of the Technique
Pages 201-222,222a,223-287
9 - Discussion of the Applications and Limitations of the Technique
Pages 289-308
10 - Computer Programs
Pages 309-375
Appendix
Pages 377-386
References
Pages 387-389
Subject Index
Pages 391-400