مشخصات کتاب

Circuit design for reliability

ویرایش:  
نویسندگان: Reis. Ricardo Augusto da Luz  
سری:  
ISBN (شابک) : 9781461440772, 1461440777 
ناشر: Springer 
سال نشر: 2015 
تعداد صفحات: 271 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 12 مگابایت 

کلمات کلیدی مربوط به کتاب طراحی مدار برای قابلیت اطمینان: مدارهای مجتمع -- طراحی و ساخت ، مدارهای مجتمع -- قابلیت اطمینان ، مدارهای مجتمع -- طراحی و ساخت ، مدارهای مجتمع -- قابلیت اطمینان

در صورت تبدیل فایل کتاب Circuit design for reliability به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب طراحی مدار برای قابلیت اطمینان نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب طراحی مدار برای قابلیت اطمینان

این کتاب درک فیزیکی، مدل‌سازی و شبیه‌سازی، خصوصیات روی تراشه، راه‌حل‌های طرح‌بندی و تکنیک‌های طراحی را ارائه می‌کند که برای افزایش قابلیت اطمینان واحدهای مدار مختلف مؤثر است. نویسندگان تکنیک‌هایی را برای فناوری‌های جدید و آینده، از مدل‌سازی فناوری، تشخیص و تجزیه و تحلیل خطا، سخت‌سازی مدار، و مدیریت قابلیت اطمینان در اختیار خوانندگان قرار می‌دهند.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book presents physical understanding, modeling and simulation, on-chip characterization, layout solutions, and design techniques that are effective to enhance the reliability of various circuit units. The authors provide readers with techniques for state of the art and future technologies, ranging from technology modeling, fault detection and analysis, circuit hardening, and reliability management.

فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-vi
Introduction....Pages 1-4
Recent Trends in Bias Temperature Instability....Pages 5-19
Charge Trapping Phenomena in MOSFETS: From Noise to Bias Temperature Instability....Pages 21-46
Atomistic Simulations on Reliability....Pages 47-67
On-Chip Characterization of Statistical Device Degradation....Pages 69-92
Compact Modeling of BTI for Circuit Reliability Analysis....Pages 93-119
Circuit Resilience Roadmap....Pages 121-143
Layout Aware Electromigration Analysis of Power/Ground Networks....Pages 145-173
Power-Gating for Leakage Control and Beyond....Pages 175-205
Soft Error Rate and Fault Tolerance Techniques for FPGAs....Pages 207-221
Low Power Robust FinFET-Based SRAM Design in Scaled Technologies....Pages 223-253
Variability-Aware Clock Design....Pages 255-272

نظرات کاربران

کتاب های تصادفی

دانلود کتاب Developing Reading Skills

دانلود کتاب Einführung in die Organisation von Maschinenfabriken unter besonderer Berücksichtigung der Selbstkostenberechnung

دانلود کتاب Isocyanide Chemistry: Applications in Synthesis and Material Science

دانلود کتاب Analyse sémiotique du discours

دانلود کتاب Praxisleitfaden Sexualmedizin: Von der Theorie zur Therapie