دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Characterization of high Tc materials and devices by electron microscopy
دانلود کتاب شناسایی مواد و دستگاه های Tc بالا با میکروسکوپ الکترونی
مشخصات کتاب
Characterization of high Tc materials and devices by electron microscopy
ویرایش: نویسندگان: Nigel D. Browning, Stephen J. Pennycook سری: ISBN (شابک) : 052155490X ناشر: Cambridge University Press سال نشر: 2000 تعداد صفحات: 405 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 15 Mb
قیمت کتاب (تومان) : 37,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Characterization of high Tc materials and devices by electron microscopy به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب شناسایی مواد و دستگاه های Tc بالا با میکروسکوپ الکترونی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب شناسایی مواد و دستگاه های Tc بالا با میکروسکوپ الکترونی
این یک گزارش واضح و به‌روز از کاربرد میکروسکوپ‌های مبتنی بر الکترون در مطالعه ابررساناهای با Tc بالا است. این مجموعه که توسط متخصصان برجسته نوشته شده است، بررسی جامعی از میکروسکوپ الکترونی روبشی، میکروسکوپ الکترونی عبوری و میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی، همراه با جزئیات هر تکنیک و کاربردهای آن ارائه می‌کند. فصل‌های مقدماتی اصول میکروسکوپ الکترونی عبوری با وضوح بالا را پوشش می‌دهند، از جمله فصلی که به تکنیک‌های آماده‌سازی نمونه و میکروآنالیز با میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی اختصاص دارد. فصول بعدی شناسایی ترکیبات ابررسانای جدید، تصویربرداری از خواص ابررسانا با میکروسکوپ الکترونی روبشی در دمای پایین، تصویربرداری از گردابه‌ها با هولوگرافی الکترونی و تعیین ساختار الکترونیکی با طیف‌سنجی از دست دادن انرژی الکترون را بررسی می‌کنند. استفاده از میکروسکوپ تونل زنی روبشی برای کاوش مورفولوژی سطح، فرآیندهای رشد و نقشه‌برداری توزیع‌های حامل ابررسانا نیز مورد بحث قرار گرفته است. فصل های پایانی کاربردهای میکروسکوپ الکترونی را برای تجزیه و تحلیل مرزهای دانه، لایه های نازک و ساختار دستگاه در نظر می گیرند. مراجع تفصیلی گنجانده شده است. این کتاب دانشجویان فارغ التحصیل و محققان در زمینه فیزیک ماده متراکم و علم مواد را مورد توجه قرار خواهد داد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
This is a clear and up-to-date account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, this compilation provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning transmission electron microscopy, together with details of each technique and its applications. Introductory chapters cover the basics of high-resolution transmission electron microscopy, including a chapter devoted to specimen preparation techniques and microanalysis by scanning transmission electron microscopy. Ensuing chapters examine identification of new superconducting compounds, imaging of superconducting properties by low-temperature scanning electron microscopy, imaging of vortices by electron holography and electronic structure determination by electron energy loss spectroscopy. The use of scanning tunneling microscopy for exploring surface morphology, growth processes and the mapping of superconducting carrier distributions is also discussed. Final chapters consider applications of electron microscopy to the analysis of grain boundaries, thin films and device structures. Detailed references are included. This book will interest graduate students and researchers in condensed matter physics and material science.
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Environmental Perspectives: A Brief Overview of Selected Topics
