دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Basic ESD and I/O Design
دانلود کتاب طراحی اولیه ESD و I/O
مشخصات کتاب
Basic ESD and I/O Design
ویرایش: 1
نویسندگان: Sanjay Dabral. Timothy Maloney
سری:
ISBN (شابک) : 9780471253594, 0471253596
ناشر: Wiley-Interscience
سال نشر: 1998
تعداد صفحات: 315
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 9 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 37,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Basic ESD and I/O Design به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب طراحی اولیه ESD و I/O نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب طراحی اولیه ESD و I/O
اولین راهنمای جامع حفاظت از ESD و طراحی ورودی/خروجی Basic ESD and I/O Design اولین کتابی است که به حفاظت ESD (تخلیه الکترواستاتیک) و طراحی ورودی/خروجی اختصاص دارد. با توجه به تقاضای فزاینده در صنعت برای طراحی‌های ورودی/خروجی با سرعت بالا، شکاف بین تحقیقات ESD و شیوه‌های طراحی فعلی VLSI را پر می‌کند و مرجع بسیار مورد نیاز را برای مهندسان تمرینی که اغلب برای یادگیری موضوع در محل کار فراخوانده می‌شوند، فراهم می‌کند. این جلد یک درمان یکپارچه از تعاملات پارامترهای ESD، I/O و فرآیند را ارائه می‌کند که هم طراحان I/O و هم طراحان فرآیند می‌توانند از آن استفاده کنند. فاکتورهای کلیدی در طراحی و آزمایش I/O و ESD را بررسی می‌کند و به خواننده کمک می‌کند تا هنگام انتخاب I/O، مسائل مربوط به ESD و قابلیت اطمینان را در نظر بگیرد. این کتاب با تاکید بر وضوح و سادگی، بر اصول طراحی تمرکز دارد که می تواند به طور گسترده ای به عنوان این زمینه پویا به تکامل خود ادامه دهد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
The first comprehensive guide to ESD protection and I/O designBasic ESD and I/O Design is the first book devoted to ESD (electrostatic discharge) protection and input/output design. Addressing the growing demand in industry for high-speed I/O designs, it bridges the gap between ESD research and current VLSI design practices and provides a much-needed reference for practicing engineers who are frequently called upon to learn the subject on the job.This volume presents an integrated treatment of ESD, I/O, and process parameter interactions that both I/O designers and process designers can use. It examines key factors in I/O and ESD design and testing, and helps the reader consider ESD and reliability issues up front when making I/O choices. Emphasizing clarity and simplicity, this book focuses on design principles that can be applied widely as this dynamic field continues to evolve.
