دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Auger electron spectroscopy : practical application to materials analysis and characterization of surfaces, interfaces, and thin films
دانلود کتاب طیف‌سنجی الکترونی اوگر: کاربرد عملی برای تجزیه و تحلیل مواد و خصوصیات سطوح، رابط‌ها و لایه‌های نازک
مشخصات کتاب
Auger electron spectroscopy : practical application to materials analysis and characterization of surfaces, interfaces, and thin films
ویرایش:
نویسندگان: Wolstenholme. John
سری: Materials characterization and analysis collection
ISBN (شابک) : 1606506811, 160650682X
ناشر: Momentum Press
سال نشر: 2015
تعداد صفحات: 256
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 18 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 31,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب طیف‌سنجی الکترونی اوگر: کاربرد عملی برای تجزیه و تحلیل مواد و خصوصیات سطوح، رابط‌ها و لایه‌های نازک: طیف بینی الکترون اوژه. روش‌های تحلیلی طیف‌سنجی الکترونی اوگر (AES) طیف‌سنج‌های تصویربرداری شیمیایی تصویربرداری عمق پروفیل انرژی تحلیلگر رابط تجزیه و تحلیل مواد تجزیه و تحلیل میکروآنالیز نانو آنالیز روبشی میکروسکوپ اسکرو (SAM) میکروسکوپ الکترونی ثانویه
در صورت تبدیل فایل کتاب Auger electron spectroscopy : practical application to materials analysis and characterization of surfaces, interfaces, and thin films به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب طیف‌سنجی الکترونی اوگر: کاربرد عملی برای تجزیه و تحلیل مواد و خصوصیات سطوح، رابط‌ها و لایه‌های نازک نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب طیف‌سنجی الکترونی اوگر: کاربرد عملی برای تجزیه و تحلیل مواد و خصوصیات سطوح، رابط‌ها و لایه‌های نازک
این کتاب استفاده از طیف‌سنجی الکترونی اوگر (AES) و میکروسکوپ روبشی اوگر را برای توصیف طیف گسترده‌ای از مواد تکنولوژیکی، از جمله فلزات و آلیاژها، نیمه‌رساناها، نانوساختارها و عایق‌ها مورد بحث قرار می‌دهد. ارزش آن به عنوان ابزاری برای تصویربرداری عنصری با وضوح بالا و پروفایل عمق ترکیبی نشان داده شده است و کاربرد تکنیک برای به دست آوردن اطلاعات ترکیبی از سطوح، رابط‌ها و ساختارهای لایه نازک مواد فنی و مهندسی نشان داده شده است. این جلد همچنین اصول فیزیکی اولیه AES را با عبارات ساده و عمدتاً کیفی توصیف می کند. اجزای اصلی طیف سنج های معمولی اوگر نیز شرح داده شده است. این کتاب انواع دیگری از تجزیه و تحلیل را که برای آنها طیف‌سنج الکترونی اوجر ممکن است مورد استفاده قرار گیرد، مورد بحث قرار می‌دهد، به عنوان مثال، میکروسکوپ الکترونی ثانویه، تصویربرداری الکترونی پس‌پراکنده، طیف‌سنجی اشعه ایکس، و همچنین رابطه بین AES و سایر تکنیک‌های آنالیز.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
This book discusses the use of Auger electron spectroscopy (AES) and scanning Auger microscopy for the characterization of a wide range of technological materials, including, metals and alloys, semiconductors, nanostructures, and insulators. Its value as a tool for high-resolution elemental imaging and compositional depth profiling is illustrated and the application of the technique for obtaining compositional information from the surfaces, interfaces, and thin film structures of technological and engineering materials is demonstrated. This volume also describes the basic physical principles of AES in simple, largely qualitative terms. Major components of typical Auger spectrometers are also described. The book discusses other types of analysis for which an Auger electron spectrometer may be used, for example, secondary electron microscopy, backscattered electron imaging, X-ray spectroscopy, as well as the relationship between AES and other analysis techniques
فهرست مطالب
Content: 1. Introduction --
2. The interaction of electrons with solid materials --
3. AES methodologies --
4. Instrumentation for auger analysis --
5. Auger electron spectroscopy in materials analysis --
6. Analytical methods for the characterization of materials --
Appendix 1. Abbreviations and acronyms --
Appendix 2. Quantum numbers --
Appendix 3. Comparison of surface and thin film analysis techniques --
Appendix 4. Standardization in surface analysis --
Appendix 5. Sources of the figures --
Further reading --
Index.
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب Сторінка із записної книжки. Том 2.
دانلود کتاب A história do sistema solar para quem tem pressa
دانلود کتاب 1,000 Books to Read Before You Die: A Life-Changing List
دانلود کتاب The Beauty of Baudelaire: The Poet as Alternative Lawgiver
