Atomic Force Microscopy - Imaging, Measuring and Manipulating Surfaces at the Atomic Scale

دسته بندی: فیزیک
ویرایش:  
نویسندگان: Bellitto V. (Ed.)  
سری:  
 
ناشر:  
سال نشر:  
تعداد صفحات: 267 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 20 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 41,000

InTech، 2012، 256 صفحه، ISBN: 9535104148 9789535104148 این کتاب مجموعه ای از تحقیقات جاری دانشمندان سراسر جهان را ارائه می دهد که از میکروسکوپ نیروی اتمی در تحقیقات خود استفاده می کنند. این تکنیک به طور گسترده ای پذیرفته شده است و برای به دست آوردن داده های ارزشمند در زمینه های مختلف استفاده می شود. br/>تصویربرداری شبکه کریستالی با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی
میکروسکوپ نیروی اتمی در تصویربرداری نوری و خصوصیات
میکروسکوپ نیروی مغناطیسی: اصول و کاربردهای اساسی
واکنش های ارتعاشی Microscope نیروی اتمی
تبدیل در طیف‌سنجی نیروی اتمی دینامیک
اثرات اصطکاک، چسبندگی و رسانش الکتریکی در مقیاس نانو در آزمایش‌های AFM
اندازه‌گیری ناهمواری در مقیاس نانو با میکروسکوپ نیروی اتمی: اصول اساسی و کاربردها
پیش‌بینی مقیاس ماکرو در مقیاس نانو
کاربرد AFM در مواد و دستگاه های III-نیترید
میکروسکوپ نیروی اتمی برای مشخص کردن پتانسیل التیام مواد آسفالتی
میکروسکوپ نیروی اتمی - برای بررسی عملیات سطحی الیاف نساجی

InTech, 2012, 256 pages, ISBN: 9535104148 9789535104148 This book presents a collection of current research from scientists throughout the world that employ atomic force microscopy in their investigations. The technique has become widely accepted and used in obtaining valuable data in a wide variety of fields. Contents Preface
Crystal Lattice Imaging Using Atomic Force Microscopy
Atomic Force Microscopy in Optical Imaging and Characterization
Magnetic Force Microscopy: Basic Principles and Applications
Vibration Responses of Atomic Force Microscope Cantilevers
Wavelet Transforms in Dynamic Atomic Force Spectroscopy
Nanoscale Effects of Friction, Adhesion and Electrical Conduction in AFM Experiments
Measurement of the Nanoscale Roughness by Atomic Force Microscopy: Basic Principles and Applications
Predicting Macroscale Effects Through Nanoscale Features
AFM Application in III-Nitride Materials and Devices
Atomic Force Microscopy to Characterize the Healing Potential of Asphaltic Materials
Atomic Force Microscopy - For Investigating Surface Treatment of Textile Fibers