دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Atomic Force Microscopy - Imaging, Meas., Manip. Surfs. at the Atomic Scale
دانلود کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی - تصویربرداری، Meas.، Manip. موج سواری می کند. در مقیاس اتمی
مشخصات کتاب
Atomic Force Microscopy - Imaging, Meas., Manip. Surfs. at the Atomic Scale
ویرایش:
نویسندگان: V. Bellitto
سری:
ISBN (شابک) : 9789535104148
ناشر: Intech
سال نشر: 2012
تعداد صفحات: 268
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 20 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 35,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Atomic Force Microscopy - Imaging, Meas., Manip. Surfs. at the Atomic Scale به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی - تصویربرداری، Meas.، Manip. موج سواری می کند. در مقیاس اتمی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی - تصویربرداری، Meas.، Manip. موج سواری می کند. در مقیاس اتمی
با ظهور میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک منبع تحلیلی و تکنیک بسیار ارزشمند برای تجزیه و تحلیل سطح کیفی و کمی با وضوح زیر نانومتری مفید بود. بعلاوه، نمونه های مطالعه شده با AFM به هیچ پیش تصفیه خاصی که ممکن است نمونه را تغییر دهد یا آسیب برساند نیاز ندارد و امکان بررسی سه بعدی سطح را فراهم می کند. این کتاب مجموعه ای از تحقیقات جاری دانشمندان سراسر جهان را ارائه می دهد که از میکروسکوپ نیروی اتمی در تحقیقات خود استفاده می کنند. این تکنیک به طور گسترده ای پذیرفته شده است و برای به دست آوردن داده های ارزشمند در زمینه های مختلف مورد استفاده قرار می گیرد. دیدن این که چگونه در یک دوره زمانی کوتاه از زمان توسعه آن در سال 1986، چگونه تکثیر شده و کاربردهای زیادی در تولید، تحقیق و توسعه یافته است، قابل توجه است.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
With the advent of the atomic force microscope (AFM) came an extremely valuable analytical resource and technique useful for the qualitative and quantitative surface analysis with sub-nanometer resolution. In addition, samples studied with an AFM do not require any special pretreatments that may alter or damage the sample and permits a three dimensional investigation of the surface. This book presents a collection of current research from scientists throughout the world that employ atomic force microscopy in their investigations. The technique has become widely accepted and used in obtaining valuable data in a wide variety of fields. It is impressive to see how, in a short time period since its development in 1986, it has proliferated and found many uses throughout manufacturing, research and development.
