دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Wesley C. Sanders (Author)
سری:
ISBN (شابک) : 9780429266553, 9781000707649
ناشر: CRC Press
سال نشر: 2019
تعداد صفحات: 154
زبان:
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 7 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی: مفاهیم اساسی و تحقیقات آزمایشگاهی: مهندسی و فناوری، مهندسی برق و الکترونیک، مدارها و دستگاهها، الکترونیک، اپتیک و الکترونیک نوری، ابزار دقیق، اندازهگیری و تست
در صورت تبدیل فایل کتاب Atomic Force Microscopy: Fundamental Concepts and Laboratory Investigations به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی: مفاهیم اساسی و تحقیقات آزمایشگاهی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب عمدتاً بر روی میکروسکوپ نیروی اتمی تمرکز دارد و به عنوان مرجعی برای دانشجویان، فوق دکترا و محققانی است که برای اولین بار از میکروسکوپ نیروی اتمی استفاده می کنند. علاوه بر این، این کتاب می تواند به عنوان متن اصلی برای یک دوره مقدماتی یک ترم در میکروسکوپ نیروی اتمی باشد. چند رابطه ریاضی مبتنی بر جبر در کتاب گنجانده شده است که خواص مکانیکی، رفتارها و نیروهای بین مولکولی مرتبط با کاوشگرهای مورد استفاده در میکروسکوپ نیروی اتمی را توصیف می کند. شکل ها، جداول و تصاویر مربوطه نیز در هر فصل در تلاش برای ارائه اطلاعات بیشتر و نکات مورد علاقه ظاهر می شوند. این کتاب شامل تحقیقات آزمایشگاهی پیشنهادی است که فرصتهایی را برای کشف تطبیق پذیری میکروسکوپ نیروی اتمی فراهم میکند. این تمرینهای آزمایشگاهی شامل فرصتهایی برای آزمایشکنندگان برای کشف منحنیهای نیرو، زبری سطح، حلقههای اصطکاک، تصویربرداری رسانایی و تصویربرداری فاز است.
This book focuses primarily on the atomic force microscope and serves as a reference for students, postdocs, and researchers using atomic force microscopes for the first time. In addition, this book can serve as the primary text for a semester-long introductory course in atomic force microscopy. There are a few algebra-based mathematical relationships included in the book that describe the mechanical properties, behaviors, and intermolecular forces associated with probes used in atomic force microscopy. Relevant figures, tables, and illustrations also appear in each chapter in an effort to provide additional information and points of interest. This book includes suggested laboratory investigations that provide opportunities to explore the versatility of the atomic force microscope. These laboratory exercises include opportunities for experimenters to explore force curves, surface roughness, friction loops, conductivity imaging, and phase imaging.
1. Introduction to Atomic Force Microscopy
2. Tip-Sample Forces
3. AFM Electronics
4. AFM Cantilevers and Probes
5. Contact Mode AFM
6. Lateral Force Microscopy
7. Conductive Atomic Force Microscopy
8. Oscillating Modes of AFM
9. Image Processing