Atom-Probe Tomography: The Local Electrode Atom Probe

تخصیص نانو توسط توموگرافی کاوشگر اتمی یک راهنمای عملی برای محققان علاقه مند به توصیف سطح اتمی مواد با توموگرافی کاوشگر اتمی است.

خوانندگان توضیحاتی در مورد کاوشگر اتمی خواهند یافت. روش توموگرافی ابزار و پروب اتمی، یونیزاسیون میدانی، تبخیر میدانی و میکروسکوپ یون میدانی. اصول اساسی فیزیک، علاوه بر بازسازی و تجسم داده ها، روش های تجزیه و تحلیل داده های آماری و آماده سازی نمونه با روش های الکتروپولیش و مبتنی بر FIB مورد بررسی قرار می گیرند. شرح کاملی از پروب اتم الکترود محلی - یک ابزار پیشرفته جدید - به همراه توضیحات دقیق و محدودیت‌های پالس لیزری به عنوان روشی برای میدان دادن به اتم‌های تبخیر شده ارائه شده است. پوشش ارزشمندی از نظریه یونیزاسیون جدید نیز گنجانده شده است، که زیربنای تکنیک کلی است.

Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materials with atom probe tomography.

Readers will find descriptions of the atom probe instrument and atom probe tomography technique, field ionization, field evaporation and field ion microscopy. The fundamental underlying physics principles are examined, in addition to data reconstruction and visualization, statistical data analysis methods and specimen preparation by electropolishing and FIB-based techniques. A full description of the local electrode atom probe – a new state-of-the-art instrument – is also provided, along with detailed descriptions and limitations of laser pulsing as a method to field evaporate atoms. Valuable coverage of the new ionization theory is also included, which underpins the overall technique.