Applied Scanning Probe Methods XI: Scanning Probe Microscopy Techniques

ویرایش: 1 
نویسندگان: Bharat Bhushan. Harald Fuchs (auth.)  
سری: NanoScience and Technology 
ISBN (شابک) : 9783540850366, 9783540850373 
ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg 
سال نشر: 2009 
تعداد صفحات: 280 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 7 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 29,000



از بررسی‌ها:

\"جلد یازدهم حاوی مطالبی در مورد پیشرفت‌های اخیر در تکنیک‌های میکروسکوپ کاوشگر روبشی است. ... ویراستاران و نویسندگان با استعداد آنها از رهبران مطالعه کاوشگر بوده‌اند. روش‌ها. … هر فصل هم هیجان و هم اهمیت کار و نتیجه‌گیری‌های گزارش‌شده را نشان می‌دهد، و مطالعه سودآوری را برای محققان در تمام سطوح تجربه ایجاد می‌کند. … همه فصل‌ها توسط فهرست‌های گسترده‌ای از منابع پشتیبانی می‌شوند و به زیبایی تصویر شده و رنگی نیز هستند. همچنین همراه با نمودارها، معادلات و غیره.» (Current Engineering Practice, 2009)

«مقالات ... با جزئیات کافی نوشته شده اند، به طوری که دانشجویان، محققان و مهندسان دانشگاه می توانند فیزیک ابزار، طراحی و ساخت دستگاه‌ها و کنسول‌ها، الگوریتم‌های پردازش سیگنال، و استفاده از آنها در تصویربرداری و توصیف سطح نمونه‌ها. ... SPM شامل تکنیک های مختلفی از جمله اسکن میکروسکوپ نوری میدان نزدیک است که کاربردهای جالبی دارد… . به خوبی نوشته شده و به وضوح نشان داده شده است. ... حاوی داده های تجربی فراوان و بحث های قابل توجهی در مورد محدودیت ها و مصنوعات است. (Barry R. Masters, Optics & Photonics News, سپتامبر 2009)

From the reviews:

"Vol. XI contains contributions about recent developments in scanning probe microscopy techniques. … The editors and their talented authors have been among the leaders in the study of probe methods. … Each chapter captures both the excitement and the importance of the work and conclusions reported, and will make profitable reading for researchers at all experience levels. … All the chapters are supported by extensive lists of references and beautifully illustrated and in color too, also along with graphs, equations etc." (Current Engineering Practice, 2009)

“The articles … are written in sufficient detail, so that university students, researchers and engineers can understand the physics of the instruments, the design and construction of the devices and the cantilevers, the signal processing algorithms, and their use in imaging and the surface characterization of the specimens. … SPM includes a variety of techniques, including scanning near-field optical microscopy, which has interesting applications … . well-written and clearly illustrated. … contain ample experimental data and significant discussion of limitations and artifacts.” (Barry R. Masters, Optics & Photonics News, September, 2009)

Front Matter....Pages I-LVI
Oscillation Control in Dynamic SPM with Quartz Sensors....Pages 1-16
Atomic Force Microscope Cantilevers Used as Sensors for Monitoring Microdrop Evaporation....Pages 17-38
Mechanical Diode-Based Ultrasonic Atomic Force Microscopies....Pages 39-71
Contact Atomic Force Microscopy: A Powerful Tool in Adhesion Science....Pages 73-95
Contact Resonance Force Microscopy Techniques for Nanomechanical Measurements....Pages 97-138
AFM Nanoindentation Method: Geometrical Effects of the Indenter Tip....Pages 139-164
Local Mechanical Properties by Atomic Force Microscopy Nanoindentations....Pages 165-198
Thermal Activation Effects in Dynamic Force Spectroscopy and Atomic Friction....Pages 199-229
Back Matter....Pages 231-235