Applied scanning probe methods IX: characterization

موفقیت روش‌های کاوشگر اسکن کاربردی سری اسپرینگر I–VII و فعالیت‌های رو به گسترش سریع در توسعه و کاربردهای پروب روبشی در سرتاسر جهان، جمع‌آوری نتایج خاص بیشتر در زمینه‌های توسعه تکنیک‌های میکروسکوپ پروب روبشی را به یک گام طبیعی تبدیل کرد. جلد هشتم)، خصوصیات (جلد IX)، و بیومیمتیک و کاربردهای صنعتی (جلد X). این سه جلد مجموعه قبلی از مجلدات تحت موضوعات موضوعی را تکمیل می کند و بینشی از کار اخیر متخصصان برجسته در بخش های مربوطه خود می دهد. طبق سنت این مجموعه، فصل ها حول تکنیک ها، خصوصیات و بیومیمتیک و کاربردهای صنعتی مرتب شده اند. جلد هشتم بر تکنیک‌های جدید پروب اسکن و درک تعاملات نوک/نمونه تمرکز دارد. موضوعات عبارتند از تصویربرداری نزدیک، AFM پیشرفته، روش‌های تحقیقاتی تحقیقاتی تخصصی در علوم حیات، از جمله سیستم‌های کانتینر خود حسگر اخبار، ترکیبی از حسگرهای AFM و میکروسکوپ‌های الکترونی و یونی روبشی، روش‌های کالیبراسیون، مدولاسیون فرکانس AFM برای کاربرد در مایعات، کاوشگر کلوین، میکروسکوپ نیروی محرکه الکتریکی، خواص انتقال در مقیاس نانومتری جلد IX بر خصوصیات سطوح مواد از جمله مشخصات ساختاری و مکانیکی محلی و سیستم‌های مولکولی تمرکز دارد. این جلد طیف وسیعی از تحقیقات STM/AFM از جمله لایه‌های فولرن، طیف‌سنجی نیرو برای کاوش خواص مواد به طور کلی، سلول‌های lms بیولوژیکی، لایه‌های اپیتلیال و اندوتلیال، سیستم‌های مرتبط با پزشکی مانند دانه‌های آمیلوئیدی، تک‌لایه‌های فسفولیپیدی، lms معدنی روی آلومینیوم را پوشش می‌دهد. و مس - ایدز، خصوصیات تریبولوژیکی، خواص مکانیکی نانوساختارهای پلیمری، پلیمرهای فنی و اپتیک نزدیک.

The success of the Springer Series Applied Scanning Probe Methods I–VII and the rapidly expanding activities in scanning probe development and applications worldwide made it a natural step to collect further speci c results in the elds of development of scanning probe microscopy techniques (Vol. VIII), characterization (Vol. IX), and biomimetics and industrial applications (Vol. X). These three volumes complement the previous set of volumes under the subject topics and give insight into the recent work of leading specialists in their respective elds. Following the tradition of the series, the chapters are arranged around techniques, characterization and biomimetics and industrial applications. Volume VIII focuses on novel scanning probe techniques and the understanding of tip/sample interactions. Topics include near eld imaging, advanced AFM, s- cializedscanningprobemethodsinlifesciencesincludingnewselfsensingcantilever systems, combinations of AFM sensors and scanning electron and ion microscopes, calibration methods, frequency modulation AFM for application in liquids, Kelvin probe force microscopy, scanning capacitance microscopy, and the measurement of electrical transport properties at the nanometer scale. Vol. IX focuses on characterization of material surfaces including structural as well as local mechanical characterization, and molecular systems. The volume covers a broad spectrum of STM/AFM investigations including fullerene layers, force spectroscopy for probing material properties in general, biological lms .and cells, epithelial and endothelial layers, medical related systems such as amyloidal aggregates, phospholipid monolayers, inorganic lms on aluminium and copper - ides,tribological characterization, mechanical properties ofpolymernanostructures, technical polymers, and near eld optics.