Applied Scanning Probe Methods

این جلد به بررسی شالوده فیزیکی و فنی پیشرفت اخیر در تکنیک‌های کاربردی کاوشگر اسکن میدان نزدیک می‌پردازد. اکنون که کاربردهای صنعتی مطالعات سطح توپوگرافی و دینامیکی نیمه رساناهای لایه نازک، پلیمرها، کاغذ، سرامیک و مواد مغناطیسی و بیولوژیکی را در بر می گیرد، این یک مرور کلی به موقع و جامع از کاربردهای SPM است. پس از طرح‌ریزی پس‌زمینه نظری میکروسکوپ‌های نیروی ایستا و دینامیکی، از جمله فناوری حسگر و مشخصه‌های نوک، جزئیات برنامه‌هایی مانند ماکرو و نانوتریبولوژی، سطوح پلیمری و بررسی‌های زبری ارائه می‌شود. بخش پایانی در تحقیقات صنعتی به کاربردهای ویژه نانوکاوشگرهای نیروی روبشی مانند دستکاری اتمی و اصلاح سطح و همچنین دستگاه‌های تک الکترونی مبتنی بر SPM می‌پردازد. دانشمندان و مهندسانی که از تکنیک‌های SPM استفاده می‌کنند یا قصد دارند از آنها استفاده کنند، از دیدگاه بین‌المللی گردآوری‌شده در این کتاب بهره‌مند خواهند شد.

This volume examines the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. After laying the theoretical background of static and dynamic force microscopies, including sensor technology and tip characterization, contributions detail applications such as macro- and nanotribology, polymer surfaces, and roughness investigations. The final part on industrial research addresses special applications of scanning force nanoprobes such as atomic manipulation and surface modification, as well as single electron devices based on SPM. Scientists and engineers either using or planning to use SPM techniques will benefit from the international perspective assembled in the book.