ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Application of wavelength dispersive X-ray spectroscopy in X-ray trace element analytical techniques

دانلود کتاب کاربرد طیف‌سنجی پراش پرتو ایکس با طول موج در تکنیک‌های تحلیل عناصر کمیاب پرتو ایکس

Application of wavelength dispersive X-ray spectroscopy in X-ray trace element analytical techniques

مشخصات کتاب

Application of wavelength dispersive X-ray spectroscopy in X-ray trace element analytical techniques

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 9789533079677 
ناشر: Intech  
سال نشر: 2011 
تعداد صفحات: 290 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 19 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 57,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 15


در صورت تبدیل فایل کتاب Application of wavelength dispersive X-ray spectroscopy in X-ray trace element analytical techniques به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب کاربرد طیف‌سنجی پراش پرتو ایکس با طول موج در تکنیک‌های تحلیل عناصر کمیاب پرتو ایکس نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب کاربرد طیف‌سنجی پراش پرتو ایکس با طول موج در تکنیک‌های تحلیل عناصر کمیاب پرتو ایکس

اشعه ایکس تنها اختراعی است که در عرض یک هفته پس از اولین مشاهده توسط رونتگن در سال 1895 به یک ابزار تشخیصی معمولی در بیمارستان ها تبدیل شد. مانند پزشکی، فیزیک، علم مواد، علوم فضایی، شیمی، باستان شناسی و متالورژی. با کاربردهای گسترده موجود از اشعه ایکس، شگفت‌آورتر است که هر روز مردم کاربردهای جدیدی از اشعه ایکس پیدا می‌کنند یا تکنیک‌های موجود را اصلاح می‌کنند. این کتاب شامل فصول منتخب در مورد کاربردهای اخیر طیف‌سنجی پرتو ایکس است که مورد توجه دانشمندان و مهندسان فعال در زمینه‌های علم مواد، فیزیک، شیمی، اخترفیزیک، اخترشیمی، ابزار دقیق و تکنیک‌های مبتنی بر اشعه ایکس است. تعیین مشخصات. فصل ها بر اساس تکنیک ها و کاربردها به دو بخش عمده تقسیم شده اند. این کتاب برخی از اصول اولیه پرتوهای ایکس ماهواره‌ای را به‌عنوان ابزار مشخصه‌سازی خواص شیمیایی و فیزیک آشکارسازها و طیف‌سنج اشعه ایکس پوشش می‌دهد. تکنیک‌هایی مانند EDXRF، WDXRF، EPMA، ماهواره‌ها، آنالیز میکرو پرتو، XRF ناشی از ذرات و اثرات ماتریس مورد بحث قرار می‌گیرند. خصوصیات لایه های نازک و مواد سرامیکی با استفاده از اشعه ایکس نیز پوشش داده شده است.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

The x-ray is the only invention that became a regular diagnostic tool in hospitals within a week of its first observation by Roentgen in 1895. Even today, x-rays are a great characterization tool at the hands of scientists working in almost every field, such as medicine, physics, material science, space science, chemistry, archeology, and metallurgy. With vast existing applications of x-rays, it is even more surprising that every day people are finding new applications of x-rays or refining the existing techniques. This book consists of selected chapters on the recent applications of x-ray spectroscopy that are of great interest to the scientists and engineers working in the fields of material science, physics, chemistry, astrophysics, astrochemistry, instrumentation, and techniques of x-ray based characterization. The chapters have been grouped into two major sections based upon the techniques and applications. The book covers some basic principles of satellite x-rays as characterization tools for chemical properties and the physics of detectors and x-ray spectrometer. The techniques like EDXRF, WDXRF, EPMA, satellites, micro-beam analysis, particle induced XRF, and matrix effects are discussed. The characterization of thin films and ceramic materials using x-rays is also covered.





نظرات کاربران