دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Analyse de défaillances de circuits VLSI par testeur à faisceau d’électrons
دانلود کتاب تجزیه و تحلیل شکست مدار VLSI توسط تستر پرتو الکترونی
مشخصات کتاب
Analyse de défaillances de circuits VLSI par testeur à faisceau d’électrons
ویرایش:
نویسندگان: Denis Savart
سری:
ناشر:
سال نشر: 0
تعداد صفحات: 202
زبان: French
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 17 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 36,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Analyse de défaillances de circuits VLSI par testeur à faisceau d’électrons به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل شکست مدار VLSI توسط تستر پرتو الکترونی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
