مشخصات کتاب

Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing)

ویرایش: 1 
نویسندگان: Adam Osseiran  
سری: Frontiers in Electronic Testing 
ISBN (شابک) : 9780792386865, 0792382633 
ناشر: Springer 
سال نشر: 1999 
تعداد صفحات: 713 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 37 مگابایت 

در صورت تبدیل فایل کتاب Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard (Frontiers in Electronic Testing) به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب اسکن مرزی و سیگنال مختلط: راهنمایی برای استاندارد تست IEEE 1149.4 (مرز در تست الکترونیکی) نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب اسکن مرزی و سیگنال مختلط: راهنمایی برای استاندارد تست IEEE 1149.4 (مرز در تست الکترونیکی)

Mixed-Signal Boundary-Scan Test Bus مکمل طبیعی Boundary-Scan IEEE Std است. 1149.1 که معمولاً با نام JTAG شناخته می شود. این استاندارد جدید Mixed-Signal استاندارد IEEE 1149.4 نام دارد و عمدتاً به آزمایش ساخت بردهای آنالوگ و سیگنال مختلط اختصاص دارد. اما مانند IEEE 1149.1 می‌توان از آن برای بسیاری از اهداف دیگر استفاده کرد: گذرگاه‌های آزمایشی و کنترل دیجیتالی آن‌ها یک «بزرگراه داده آنالوگ» بسیار کلی را تشکیل می‌دهند. به طور فزاینده ای، تابلوهای سیگنال مختلط پیچیده می شوند و فرآیند آزمایش آنها را بسیار چالش برانگیز می کند. در همان زمان، پیچیدگی و فناوری آی سی آنقدر پیچیده می شود که آزمایش IC ها در سطح برد بسیار گران می شود. جاسازی بخشی از تستر برد روی تراشه هدف IEEE 1149.4 است. اسکن مرزی سیگنال آنالوگ و مختلط درمان جامعی از طراحی، کاربرد و ساختار IEEE 1149.4 است. اطلاعات مربوط به اسکن مرزی دیجیتال را به روز می کند و طراحان تراشه را در یک فصل اختصاصی حاوی راهنمایی برای ساخت آسان مدارهای آنالوگ از جمله IEEE 1149.4 آدرس می دهد. یک مترولوژی پایه و یک استراتژی تست با ابزار دقیق مورد نیاز برای آن نیز شرح داده شده است. اسکن مرزی سیگنال آنالوگ و مختلط برای محققان و متخصصانی که نیاز به درک استاندارد IEEE 1149.4 و اجرای عملی آن در صنعت دارند، خواندن ضروری است.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

The Mixed-Signal Boundary-Scan Test Bus is the natural complement to the widely used Boundary-Scan IEEE Std. 1149.1, commonly known as JTAG. This new Mixed-Signal standard is called IEEE Standard 1149.4 and is mainly dedicated to the manufacturing test of analog and mixed-signal boards. But like the IEEE 1149.1 it can be used for many other purposes: the test buses and their digital control form a very general `analog data highway'. Increasingly, mixed-signal boards are gaining complexity, making their testing process extremely challenging. At the same time, IC complexity and technology are getting so sophisticated that testing ICs at the board level becomes very expensive. Embedding a part of the board tester on chip is the aim of the IEEE 1149.4. Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan is a comprehensive treatment of the design, application and structure of the IEEE 1149.4. It updates the information on digital Boundary-Scan and addresses chip designers in a dedicated chapter containing guidance to easily build analog circuits including IEEE 1149.4. A basic metrology and a test strategy with the instrumentation needed for it are also described. Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan is essential reading for researchers and professionals who need to understand IEEE Standard 1149.4 and its practical implementation in industry.

نظرات کاربران

کتاب های تصادفی

دانلود کتاب Mathematics-1, GTU–2018

دانلود کتاب Professional: JavaScript® for Web Developers, Third Edition

دانلود کتاب IGIS '94: Geographic Information Systems: International Workshop on Advanced Research in Geographic Information Systems Monte Verità , Ascona, Switzerland February 28 – March 4, 1994 Proceedings

دانلود کتاب Baseball's Top 10 Home Run Hitters

دانلود کتاب Precalculus Metric Version