دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: هنرهای گرافیکی ویرایش: 2 نویسندگان: Michael M. Woolfson سری: ISBN (شابک) : 0521412714, 9780511622557 ناشر: سال نشر: 1997 تعداد صفحات: 415 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 42 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب An Introduction to X-ray Crystallography, Second Edition به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب مقدمه ای بر کریستالوگرافی اشعه ایکس، ویرایش دوم نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
کتاب درسی برای دانشجویان ارشد یا فارغ التحصیلان که شروع به مطالعه جدی کریستالوگرافی اشعه ایکس می کنند. هم برای کسانی که قصد تبدیل شدن به کریستالوگراف های حرفه ای را دارند و هم برای آن دسته از فیزیکدانان، شیمیدانان، زیست شناسان، زمین شناسان، متالورژیست ها و دیگران که از آن به عنوان ابزاری در تحقیقات خود استفاده می کنند، جالب خواهد بود. تمام جنبه های اصلی کریستالوگرافی پوشش داده شده است - هندسه بلورها و تقارن آنها، جنبه های نظری و عملی پراش اشعه ایکس توسط کریستال ها و نحوه تجزیه و تحلیل داده ها برای یافتن تقارن کریستال و ساختار آن. شامل پیشرفتهای اخیر مانند سینکروترون به عنوان منبع اشعه ایکس، روشهای حل ساختارها از دادههای توان و طیف کاملی از تکنیکها برای حل ساختارها از دادههای تک کریستالی. برنامه های کامپیوتری برای انجام بسیاری از عملیات پردازش داده و حل ساختارهای بلوری از جمله با روش های مستقیم ارائه می شوند. این برنامهها برای بسیاری از مثالهای ارائهشده در پایان هر فصل مورد نیاز هستند، اما میتوان از آنها برای ایجاد مثالهای جدیدی استفاده کرد که دانشآموزان بتوانند خود یا یکدیگر را آزمایش کنند.
A textbook for the senior undergraduate or graduate student beginning a serious study of X-ray crystallography. It will be of interest both to those intending to become professional crystallographers and to those physicists, chemists, biologists, geologists, metallurgists and others who will use it as a tool in their research. All major aspects of crystallography are covered--the geometry of crystals and their symmetry, theoretical and practical aspects of diffracting X-rays by crystals and how the data may be analyzed to find the symmetry of the crystal and its structure. Includes recent advances such as the synchrotron as a source of X-rays, methods of solving structures from power data and the full range of techniques for solving structures from single-crystal data. Computer programs are provided for carrying out many operations of data-processing and solving crystal structures including by direct methods. These programs are required for many of the examples given at the end of each chapter but can be used to create new examples by which students can test themselves or each other.
0521423597......Page 1
An introduction to X-ray crystallography......Page 4
Contents......Page 8
Preface to the First Edition......Page 11
Preface to the Second Edition......Page 13
1.2 The external symmetry of crystals......Page 14
1.3 The seven crystal systems......Page 20
1.4 The thirty-two crystal classes......Page 22
1.5 The unit cell......Page 25
1.6 Miller indices......Page 28
1.7 Space lattices......Page 29
1.8 Symmetry elements......Page 33
1.9 Space groups......Page 36
1.10 Space group and crystal class......Page 43
Problems to Chapter 1......Page 44
2.1 A general description of the scattering process......Page 45
2.2 Scattering from a pair of points......Page 47
2.3 Scattering from a general distribution of point scatterers......Page 49
2.4 Thomson scattering......Page 50
2.5 Compton scattering......Page 55
2.6 The scattering of X-rays by atoms......Page 56
Problems to Chapter 2......Page 61
3.1 Diffraction from a one-dimensional array of atoms......Page 63
3.2 Diffraction from a two-dimensional array of atoms......Page 69
3.3 Diffraction from a three-dimensional array of atoms......Page 70
3.4 The reciprocal lattice......Page 72
3.5 Diffraction from a crystal - the structure factor......Page 77
3.6 Bragg's law......Page 80
3.7 The structure factor in terms of indices of reflection......Page 85
Problems to Chapter 3......Page 87
4.1 The Fourier series......Page 89
4.2 Numerical application of Fourier series......Page 92
4.4 The Fourier transform......Page 98
3 y^^......Page 104
o......Page 106
4.8 The electron-density equation......Page 112
(/c,......Page 117
= 0, I x | >......Page 119
5.1 The conditions for diffraction to occur......Page 121
5.2 The powder camera......Page 125
5.3 The oscillation camera......Page 131
5.4 The Weissenberg camera......Page 138
5.5 The precession camera......Page 143
5.6 The photographic measurement of intensities......Page 148
5.7 Diffractometers......Page 153
5.8 X-ray sources......Page 156
5.9 Image-plate systems......Page 163
5.10 The modern Laue method......Page 164
Problems to Chapter 5......Page 167
6.1 Diffraction from a rotating crystal......Page 169
6.2 Absorption of X-rays......Page 175
6.3 Primary extinction......Page 182
6.4 Secondary extinction......Page 186
6.5 The temperature factor......Page 188
6.6 Anomalous scattering......Page 192
Problems to Chapter 6......Page 201
7.1 Tests for the lack of a centre of symmetry......Page 203
7.2 The optical properties of crystals......Page 209
7.3 The symmetry of X-ray photographs......Page 221
7.4 Information from systematic absences......Page 223
7.5 Intensity statistics......Page 228
7.6 Detection of mirror planes and diad axes......Page 240
Problems to Chapter 7......Page 242
8.1 Trial-and-error methods......Page 244
8.2 The Patterson function......Page 246
8.3 The heavy-atom method......Page 262
8.4 Isomorphous replacement......Page 268
8.5 The application of anomalous scattering......Page 280
8.6 Inequality relationships......Page 287
8.7 Sign relationships......Page 295
8.8 General phase relationships......Page 303
8.9 A general survey of methods......Page 310
Problems to Chapter 8......Page 311
9.1 The determination of unit-cell parameters......Page 314
9.2 The scaling of observed data......Page 320
9.3 Fourier refinement......Page 322
9.4 Least-squares refinement......Page 330
9.5 The parameter-shift method......Page 333
Problems to Chapter 9......Page 335
Physical constants and tables......Page 338
Appendices......Page 340
Solutions to Problems......Page 380
References......Page 408
Bibliography......Page 410
Index......Page 412