Advances in X-Ray Analysis: Volume 15

کاربرد آشکارسازهای حالت جامد با وضوح انرژی بالا در طیف سنجی اشعه ایکس، و استفاده روزافزون از رایانه ها در اندازه گیری و ارزیابی داده ها، محرک جدیدی به تکنیک های اشعه ایکس در شیمی تحلیلی می دهد. بیستمین کنفرانس سالانه اشعه ایکس دنور این علاقه مجدد را از چندین جهت منعکس می کند. مقالات دعوت شده، گروه بندی شده در جلسه اول، ویژگی های آشکارسازهای مورد استفاده در اندازه گیری اشعه ایکس را بررسی می کنند. یک مقاله به تشخیص تک یون اختصاص داده شده است. اگرچه ممکن است چنین موضوعی برای اهداف کنفرانس دنور حاشیه‌ای به نظر برسد، ما باید پیوند تکنیک‌هایی را که برای اهداف مشابه اعمال می‌شود، بشناسیم. طیف سنجی جرمی کاوشگر یونی به وظایفی مشابه کارهای انجام شده توسط طیف سنجی اشعه ایکس با میکروآنالایزر پروب الکترونی اختصاص دارد. دانشمندان و فناوران شاهد بحث در مورد این دو تکنیک در همان جلسات خواهند بود. بحث اتوماسیون و برنامه نویسی به دو سخنران دعوت شده محدود نمی شود، بلکه به مقالات ارائه شده در بیش از یک جلسه می رسد. موضوع آنالیز فلورسانس با تحریک ایزوتوپی و لوله ای نیز برای کسانی که درگیر کاربردهای عملی تکنیک های اشعه ایکس هستند بسیار جالب خواهد بود. ارتباطات موجود در این جلد، و بحث‌های پر جنب و جوشی که مکرراً پس از ارائه مقالات انجام می‌شود، گواه بر حیات موضوعاتی است که مورد توجه کنفرانس سالانه اشعه ایکس دنور هستند.

The application of solid-state detectors of high energy resolution to x-ray spectrometry, and the increasing use of compu­ ters in both measurement and data evaluation, are giving a new stimulus to x-ray techniques in analytical chemistry. The Twentieth Annual Denver X-ray Conference reflects this renewed interest in several ways. The invited papers, grouped in Session I, review the charac­ teristics of the detectors used in the measurement of x-rays. One paper is dedicated to the detection of single ions. Although such a subject may appear to be marginal to the purposes of the Denver Conference, we must recognize the affinity of techniques applied to similar purposes. Ion probe mass spectrometry is dedicated to tasks similar to those performed by x-ray spectrometry with the electron probe microanalyzer. Scientists and technologists will see these two techniques discussed in the same meetings. The discussion of automation and programming is not limited to the two invited speakers, but extends to papers presented in more than one session. The matter of fluorescence analysis by isotope- and tube-excitation will also be of great interest to those concerned with the practical applications of x-ray techniques. The communications contained in this volume, and the lively discussions which frequently followed the presentation of papers, attest to the vitality of the subjects which are the concern of the Annual Denver X-ray Conference.