دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1st
نویسندگان: Guillermo H. Kaufmann (ed.)
سری:
ISBN (شابک) : 3527409572, 9783527409570
ناشر: Wiley-VCH
سال نشر: 2011
تعداد صفحات: 322
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 5 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب پیشرفت در اندازه گیری نقطه و تکنیک های مرتبط: اپتیک فیزیک علوم ریاضی ریاضی کشاورزی نجوم اخترفیزیک زیست شناسی علوم زیستی شیمی زمین مطالعات محیطی مکانیک کتاب های درسی اجاره ای جدید استفاده شده بوتیک تخصصی
در صورت تبدیل فایل کتاب Advances in Speckle Metrology and Related Techniques به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پیشرفت در اندازه گیری نقطه و تکنیک های مرتبط نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
اندازهشناسی لکه شامل تکنیکهای نوری مختلفی است که بر اساس میدانهای لکهای است که توسط بازتاب از یک سطح ناهموار یا با انتقال از طریق یک پخش کننده خشن ایجاد میشود. این تکنیک ها ثابت کرده اند که در آزمایش مواد مختلف به روشی غیر مخرب بسیار مفید هستند. آنها در طول سال های گذشته به دلیل توسعه اجزای نوری مدرن، با رایانه های دیجیتال سریعتر و قدرتمندتر و رویکردهای جدید پردازش داده، به شدت تغییر کرده اند. این بهروزترین مرور کلی از موضوع، تکنیکهای جدیدی را که در زمینه اندازهشناسی لکهشناسی در دهه گذشته توسعه یافتهاند، و همچنین کاربردهایی در مکانیک تجربی، علوم مواد، آزمایشهای نوری، و تحلیل حاشیهها را توصیف میکند.
Speckle metrology includes various optical techniques that are based on the speckle fields generated by reflection from a rough surface or by transmission through a rough diffuser. These techniques have proven to be very useful in testing different materials in a non-destructive way. They have changed dramatically during the last years due to the development of modern optical components, with faster and more powerful digital computers, and novel data processing approaches. This most up-to-date overview of the topic describes new techniques developed in the field of speckle metrology over the last decade, as well as applications to experimental mechanics, material science, optical testing, and fringe analysis.