دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 183
دانلود کتاب پیشرفت در تصویربرداری و فیزیک الکترونی ، دوره 183
مشخصات کتاب
Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 183
ویرایش: 1st
نویسندگان: Peter W. Hawkes
سری: Advances in Imaging and Electron Physics 183
ISBN (شابک) : 0128002654, 9780128002650
ناشر: Academic Press
سال نشر: 2014
تعداد صفحات: 249
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 13 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 51,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 183 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پیشرفت در تصویربرداری و فیزیک الکترونی ، دوره 183 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب پیشرفت در تصویربرداری و فیزیک الکترونی ، دوره 183
پیشرفت در تصویربرداری و فیزیک الکترون دو سریال طولانی
مدت را ادغام می کند-پیشرفت در الکترونیک و فیزیک
الکترونیک و پیشرفت در میکروسکوپ نوری و الکترونی. این
مجموعه شامل مقالات گسترده ای در مورد فیزیک دستگاه های الکترونی
(به ویژه دستگاه های نیمه هادی)، اپتیک ذرات در انرژی های بالا و
پایین، میکرولیتوگرافی، علم تصویر و پردازش تصویر دیجیتال، انتشار
امواج الکترومغناطیسی، میکروسکوپ الکترونی، و روش های محاسباتی
مورد استفاده در همه این حوزه ها است. .
- مشارکت از مقامات برجسته
- اطلاع رسانی و به روز رسانی در مورد تمام آخرین تحولات در این زمینه
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Advances in Imaging & Electron Physics merges two
long-running serials-Advances in Electronics & Electron
Physics and Advances in Optical & Electron
Microscopy. The series features extended articles on the
physics of electron devices (especially semiconductor devices),
particle optics at high and low energies, microlithography,
image science and digital image processing, electromagnetic
wave propagation, electron microscopy, and the computing
methods used in all these domains.
- Contributions from leading authorities
- Informs and updates on all the latest developments in the field
