Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience

این جلد پوشش کتاب محبوب نویسندگان در سال 1992، ریز پراش الکترونی را گسترش داده و به روز می کند. همانطور که از عنوان پیداست، تمرکز کتاب از ریزپراش الکترونی و پراش الکترونی پرتو همگرا به همه اشکال میکروسکوپ الکترونی عبوری پیشرفته تغییر کرده است. توجه ویژه به پراش و تصویربرداری الکترون، از جمله تصویربرداری TEM و STEM با وضوح بالا، و کاربرد این روش‌ها برای کریستال‌ها، نقص‌های آنها و نانوساختارها داده می‌شود. متن معتبر بیشتر دانش مفیدی را که در طول سال‌ها از مطالعه مسئله پراکندگی الکترون‌های چندگانه، توسعه اخیر اصلاح‌کننده‌های انحراف و کاربرد آن‌ها در خصوصیات ساختار مواد، و همچنین آموزش گسترده نویسندگان به دست آمده است، خلاصه و توسعه می‌دهد. تجربه در این زمینه ها میکروسکوپ الکترونی انتقالی پیشرفته: تصویربرداری و پراش در علوم نانو برای استفاده به عنوان متن پیشرفته در مقطع کارشناسی یا کارشناسی ارشد در پشتیبانی از مواد درسی در بخش‌های علوم مواد، فیزیک یا شیمی ایده‌آل است.

This volume expands and updates the coverage in the authors' popular 1992 book, Electron Microdiffraction. As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction and convergent beam electron diffraction to all forms of advanced transmission electron microscopy. Special attention is given to electron diffraction and imaging, including high-resolution TEM and STEM imaging, and the application of these methods to crystals, their defects, and nanostructures. The authoritative text summarizes and develops most of the useful knowledge which has been gained over the years from the study of the multiple electron scattering problem, the recent development of aberration correctors and their applications to materials structure characterization, as well as the authors' extensive teaching experience in these areas. Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience is ideal for use as an advanced undergraduate or graduate level text in support of course materials in Materials Science, Physics or Chemistry departments.