Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

این کتاب ریشه در دوره های فشرده فشرده میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروآنالیز اشعه ایکس دارد که از سال 1972 هر ساله در دانشگاه لیهای تدریس می شود. به منظور ارائه یک کتاب درسی حاوی مطالب ارائه شده در دوره اصلی، استادان برای نوشتن کتاب میکروسکوپ الکترونی روبشی عملی (PSEM)، که توسط Plenum Press در سال 1975 منتشر شد، همکاری کردند. این دوره در سال های بعد به تکامل و گسترش ادامه داد تا اینکه حجم مطالبی که باید پوشش داده شود، توسعه مقدمه جداگانه ای را ضروری کرد. دوره های تخصصی و پیشرفته. در سال 1981، مدرسان پروژه بازنویسی کتاب درسی اصلی را انجام دادند و حجم میکروسکوپ الکترونی اسکن و میکروآنالیز اشعه ایکس (SEMXM) را تولید کردند. این جلد شامل بسط‌های قابل‌توجهی از پردازش مواد اولیه مانند نوری الکترون، تشکیل تصویر، طیف‌سنجی پرتو ایکس پراکنده انرژی، و تجزیه و تحلیل کمی و کیفی بود. در همان زمان، تعدادی از فصل‌ها که در جلد PSEM گنجانده شده بودند، از جمله آن‌هایی که در مورد کنتراست مغناطیسی و تضاد کانال الکترون قرار داشتند، به دلایلی از فضا حذف شدند. علاوه بر این، این مباحث به طور طبیعی به پایه دوره پیشرفته تبدیل شده بود. به‌علاوه، تکامل حوزه‌های SEM و میکروآنالیز منجر به توسعه موضوعات جدیدی مانند پردازش تصویر دیجیتال شده است که طبیعتاً به موضوعاتی در دوره پیشرفته تبدیل شده‌اند.

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec­ tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972. In order to provide a textbook containing the materials presented in the original course, the lecturers collaborated to write the book Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), which was published by Plenum Press in 1975. The course con­ tinued to evolve and expand in the ensuing years, until the volume of material to be covered necessitated the development of separate intro­ ductory and advanced courses. In 1981 the lecturers undertook the project of rewriting the original textbook, producing the volume Scan­ ning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (SEMXM). This vol­ ume contained substantial expansions of the treatment of such basic material as electron optics, image formation, energy-dispersive x-ray spectrometry, and qualitative and quantitative analysis. At the same time, a number of chapters, which had been included in the PSEM vol­ ume, including those on magnetic contrast and electron channeling con­ trast, had to be dropped for reasons of space. Moreover, these topics had naturally evolved into the basis of the advanced course. In addition, the evolution of the SEM and microanalysis fields had resulted in the devel­ opment of new topics, such as digital image processing, which by their nature became topics in the advanced course.