Field Emission Scanning Electron Microscopy: New Perspectives for Materials Characterization

این کتاب آنچه را که اکنون از نظر خصوصیات مواد با نسل جدید میکروسکوپ‌های الکترونی روبشی تابش میدان سرد قابل دستیابی است، برجسته می‌کند که بر روی مواد واقعی با وضوح فضایی بالا اعمال می‌شود. این مقاله در مورد میکروسکوپ‌های الکترونی روبشی پیشرفته/ میکروسکوپ‌های الکترونی روبشی عبوری (SEM/STEM)، تکنیک‌های شبیه‌سازی و پس پردازش با وضوح فضایی بالا در زمینه‌های نانومواد، متالورژی، زمین‌شناسی و موارد دیگر بحث می‌کند. این میکروسکوپ‌ها اکنون عملکرد بهبود یافته‌ای را در ولتاژ فرود بسیار پایین و پایداری جریان پروب پرتو بالا ارائه می‌کنند، همراه با قابلیت حالت انتقال معمولی که می‌تواند با میکروسکوپ‌های الکترونی عبوری (STEM/-TEM) رقابت کند. ولتاژ

This book highlights what is now achievable in terms of materials characterization with the new generation of cold-field emission scanning electron microscopes applied to real materials at high spatial resolution. It discusses advanced scanning electron microscopes/scanning- transmission electron microscopes (SEM/STEM), simulation and post-processing techniques at high spatial resolution in the fields of nanomaterials, metallurgy, geology, and more. These microscopes now offer improved performance at very low landing voltage and high -beam probe current stability, combined with a routine transmission mode capability that can compete with the (scanning-) transmission electron microscopes (STEM/-TEM) historically run at higher beam accelerating voltage