X-Ray Spectroscopy for Chemical State Analysis

این کتاب بر روی طیف‌سنجی پرتو ایکس برای تجزیه و تحلیل حالت شیمیایی که فیزیک اشعه ایکس، ویژگی‌های طیف‌سنجی مورد استفاده برای مواد کاربردی و سمی، و ایده‌های نویسنده مربوط به آزمایش‌های اشعه ایکس را پوشش می‌دهد، تمرکز دارد. این کتاب همچنین تفاسیر نظری جدیدی از طیف‌های پرتو ایکس را همراه با تکنیک‌های تجربی مورد نیاز هم برای کاربران تابش سنکروترون و هم برای آزمایش‌گران آزمایشگاهی ارائه می‌کند. این کتاب نه تنها اطلاعات عملی را ارائه می دهد، بلکه دانش پایه طیف سنج های تجاری موجود و فیزیک پایه اپتیک و الکترومغناطیس مربوط به اشعه ایکس را نیز پوشش می دهد. علاوه بر این، نویسنده تاریخ فراموش شده فیزیک اشعه ایکس در آغاز قرن بیستم را معرفی می کند. این کتاب برای محققانی که کاتالیزورها، مواد انتقال دهنده بار، خصوصیات سطحی و عناصر کمیاب سمی را از طریق طیف سنجی اشعه ایکس برای تجزیه و تحلیل حالت شیمیایی و همچنین تجزیه و تحلیل کمی مطالعه می کنند، استفاده می شود.

</ p>

This book focuses on X-ray spectroscopy for chemical state analysis covering X-ray physics, spectroscopic characteristics used for functional and toxic materials, and the author's ideas related to X-ray experiments. This book also provides novel theoretical interpretations of X-ray spectra along with experimental techniques needed for both synchrotron radiation users and laboratory experimentalists. Presenting not only practical information, this book also covers basic knowledge of commercially available spectrometers and the basic physics of optics and electromagnetism related to X-rays. Furthermore, the author introduces the forgotten history of X-ray physics in the beginning of twentieth century. This book is of use for researchers studying catalysts, charge-transfer materials, surface characterization, and toxic trace elements via X-ray spectroscopy for chemical state analysis as well as quantitative analysis.